RT正版速发液晶基多模控光成像探测张新宇华中科技大学出版社9787568037778

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作者张新宇[等]著

出版社华中科技大学出版社

ISBN9787568037778

出版时间2021-08

版次1

装帧平装

开本大32开

定价158元

货号R_11266189

上书时间2024-06-24

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商品描述: 本书共十二章：章综述了焦平面成像探测技术的发展现状和趋势；第二章讨论了电控液晶微光学结括微透镜阵列的基本特征；第三章分析了液晶基波前成像探测的基本属性；第四章研究了基于波前成像的景深扩展基本问题；第五章主要开展了基于波前成像的物空间深度测量方法研究；第六章论述了液晶基光场成像探测的基本属性与特征；第七章主行了基于电调光场成像的运动参数测量方面的关键问题；第八章主要针对液晶基光场与平面一体化成像问题开展基础性研究；第九章主要涉及红外光场成像用石墨烯基电控液晶微透镜阵列的基本特性；第十章讨论了液晶基偏振成像探测的基本属性与特征；第十一章论述了基于扭曲向列相液晶的偏振光场成像属性基本问题；第十二章主要开展了石墨烯基电控液晶微透镜与偏振光场成像方面的基础方法研究。

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