UVM芯片验证技术案例集9787302658542
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作者马骁编著
出版社清华大学出版社
ISBN9787302658542
出版时间2024-05
装帧平装
开本32开
定价119元
货号15965989
上书时间2024-09-19
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目录
第1章可重用的UVM验证环境
1.1背景技术方案及缺陷
1.1.1现有方案
1.1.2主要缺陷
1.2解决的技术问题
1.3提供的技术方案
1.3.1结构
1.3.2原理
1.3.3优点
1.3.4具体步骤
第2章interface快速声明、连接和配置传递的方法
2.1背景技术方案及缺陷
2.1.1现有方案
2.1.2主要缺陷
2.2解决的技术问题
2.3提供的技术方案
2.3.1结构
2.3.2原理
2.3.3优点
2.3.4具体步骤
第3章在可重用验证环境中连接interface的方法
3.1背景技术方案及缺陷
3.1.1现有方案
3.1.2主要缺陷
3.2解决的技术问题
3.3提供的技术方案
3.3.1结构
3.3.2原理
3.3.3优点
3.3.4具体步骤
第4章支持结构体端口数据类型的连接interface的方法
4.1背景技术方案及缺陷
4.1.1现有方案
4.1.2主要缺陷
4.2解决的技术问题
4.3提供的技术方案
4.3.1结构
4.3.2原理
4.3.3优点
4.3.4具体步骤
第5章快速配置和传递验证环境中配置对象的方法
5.1背景技术方案及缺陷
5.1.1现有方案
5.1.2主要缺陷
5.2解决的技术问题
5.3提供的技术方案
5.3.1结构
5.3.2原理
5.3.3优点
5.3.4具体步骤
第6章对采用reactive slave方式验证的改进方法
6.1背景技术方案及缺陷
6.1.1现有方案
6.1.2主要缺陷
6.2解决的技术问题
6.3提供的技术方案
6.3.1结构
6.3.2原理
6.3.3优点
6.3.4具体步骤
第7章应用sequence反馈机制的激励控制方法
7.1背景技术方案及缺陷
7.1.1现有方案
7.1.2主要缺陷
7.2解决的技术问题
7.3提供的技术方案
7.3.1结构
7.3.2原理
7.3.3优点
7.3.4具体步骤
第8章应用uvm_tlm_analysis_fifo的激励控制方法
8.1背景技术方案及缺陷
8.1.1现有方案
8.1.2主要缺陷
8.2解决的技术问题
8.3提供的技术方案
8.3.1结构
8.3.2原理
8.3.3优点
8.3.4具体步骤
第9章快速建立DUT替代模型的记分板标准方法
9.1背景技术方案及缺陷
9.1.1现有方案
9.1.2主要缺陷
9.2解决的技术问题
9.3提供的技术方案
9.3.1结构
9.3.2原理
9.3.3优点
9.3.4具体步骤
第10章支持乱序比较的记分板的快速实现方法
10.1背景技术方案及缺陷
10.1.1现有方案
10.1.2主要缺陷
10.2解决的技术问题
10.3提供的技术方案
10.3.1结构
10.3.2原理
10.3.3优点
10.3.4具体步骤
第11章对固定延迟输出结果的RTL接口信号的monitor的简便方法
11.1背景技术方案及缺陷
11.1.1现有方案
11.1.2主要缺陷
11.2解决的技术问题
11.3提供的技术方案
11.3.1结构
11.3.2原理
11.3.3优点
11.3.4具体步骤
第12章监测和控制DUT内部信号的方法
12.1背景技术方案及缺陷
12.1.1现有方案
12.1.2主要缺陷
12.2解决的技术问题
12.3提供的技术方案
12.3.1结构
12.3.2原理
12.3.3优点
12.3.4具体步骤
第13章向UVM验证环境中传递设计参数的方法
13.1背景技术方案及缺陷
13.1.1现有方案
13.1.2主要缺陷
13.2解决的技术问题
13.3提供的技术方案
13.3.1结构
13.3.2原理
13.3.3优点
13.3.4具体步骤
第14章对设计与验证平台连接集成的改进方法
14.1背景技术方案及缺陷
14.1.1现有方案
14.1.2主要缺陷
14.2解决的技术问题
14.3提供的技术方案
14.3.1结构
14.3.2原理
14.3.3优点
14.3.4具体步骤
第15章应用于路由类模块设计的transaction调试追踪和控制的方法
15.1背景技术方案及缺陷
15.1.1现有方案
15.1.2主要缺陷
15.2解决的技术问题
15.3提供的技术方案
15.3.1结构
15.3.2原理
15.3.3优点
15.3.4具体步骤
第16章使用UVM sequence item对包含layered protocol的RTL设计进行验证的
简便方法
16.1背景技术方案及缺陷
16.1.1现有方案
16.1.2主要缺陷
16.2解决的技术问题
16.3提供的技术方案
16.3.1结构
16.3.2原理
16.3.3优点
16.3.4具体步骤
第17章应用于VIP的访问者模式方法
17.1背景技术方案及缺陷
17.1.1现有方案
17.1.2主要缺陷
17.2解决的技术问题
17.3提供的技术方案
17.3.1结构
17.3.2原理
17.3.3优点
17.3.4具体步骤
第18章设置UVM目标phase的额外等待时间的方法
18.1背景技术方案及缺陷
18.1.1现有方案
18.1.2主要缺陷
18.2解决的技术问题
18.3提供的技术方案
18.3.1结构
18.3.2原理
18.3.3优点
18.3.4具体步骤
第19章基于UVM验证平台的仿真结束机制
19.1背景技术方案及缺陷
19.1.1现有方案
19.1.2主要缺陷
19.2解决的技术问题
19.3提供的技术方案
19.3.1结构
19.3.2原理
19.3.3优点
19.3.4具体步骤
第20章记分板和断言检查相结合的验证方法
20.1背景技术方案及缺陷
20.1.1现有方案
20.1.2主要缺陷
20.2解决的技术问题
20.3提供的技术方案
20.3.1结构
20.3.2原理
20.3.3优点
20.3.4具体步骤
第21章支持错误注入验证测试的验证平台
21.1背景技术方案及缺陷
21.1.1现有方案
21.1.2主要缺陷
21.2解决的技术问题
21.3提供的技术方案
21.3.1结构
21.3.2原理
21.3.3优点
21.3.4具体步骤
第22章一种基于bind的ECC存储注错测试方法
22.1背景技术方案及缺陷
22.1.1现有方案
22.1.2主要缺陷
22.2解决的技术问题
22.3提供的技术方案
22.3.1结构
22.3.2原理
22.3.3优点
22.3.4具体步骤
第23章在验证环境中更优的枚举型变量的声明使用方法
23.1背景技术方案及缺陷
23.1.1现有方案
23.1.2主要缺陷
23.2解决的技术问题
23.3提供的技术方案
23.3.1结构
23.3.2原理
23.3.3优点
23.3.4具体步骤
第24章基于UVM方法学的SVA封装方法
24.1背景技术方案及缺陷
24.1.1现有方案
24.1.2主要缺陷
24.2解决的技术问题
24.3提供的技术方案
24.3.1结构
24.3.2原理
24.3.3优点
24.3.4具体步骤
第25章增强对SVA调试和控制的方法
25.1背景技术方案及缺陷
25.1.1现有方案
25.1.2主要缺陷
25.2解决的技术问题
25.3提供的技术方案
25.3.1结构
25.3.2原理
25.3.3优点
25.3.4具体步骤
第26章针对芯片复位测试场景下的验证框架
26.1背景技术方案及缺陷
26.1.1现有方案
26.1.2主要缺陷
26.2解决的技术问题
26.3提供的技术方案
26.3.1结构
26.3.2原理
26.3.3优点
26.3.4具体步骤
第27章采用事件触发的芯片复位测试方法
27.1背景技术方案及缺陷
27.1.1现有方案
27.1.2主要缺陷
27.2解决的技术问题
27.3提供的技术方案
27.3.1结构
27.3.2原理
27.3.3优点
27.3.4具体步骤
第28章支持多空间域的芯片复位测试方法
28.1背景技术方案及缺陷
28.1.1现有方案
28.1.2主要缺陷
28.2解决的技术问题
28.3提供的技术方案
28.3.1结构
28.3.2原理
28.3.3优点
28.3.4具体步骤
第29章对参数化类的压缩处理技术
29.1背景技术方案及缺陷
29.1.1现有方案
29.1.2主要缺陷
29.2解决的技术问题
29.3提供的技术方案
29.3.1结构
29.3.2原理
29.3.3优点
29.3.4具体步骤
第30章基于UVM的中断处理技术
30.1背景技术方案及缺陷
30.1.1现有方案
30.1.2主要缺陷
30.2解决的技术问题
30.3提供的技术方案
30.3.1结构
30.3.2原理
30.3.3优点
30.3.4具体步骤
第31章实现覆盖率收集代码重用的方法
31.1背景技术方案及缺陷
31.1.1现有方案
31.1.2主要缺陷
31.2解决的技术问题
31.3提供的技术方案
31.3.1结构
31.3.2原理
31.3.3优点
31.3.4具体步骤
第32章对实现覆盖率收集代码重用方法的改进
32.1背景技术方案及缺陷
32.1.1现有方案
32.1.2主要缺陷
32.2解决的技术问题
32.3提供的技术方案
32.3.1结构
32.3.2原理
32.3.3优点
32.3.4具体步骤
第33章针对相互依赖的成员变量的随机约束方法
33.1背景技术方案及缺陷
33.1.1现有方案
33.1.2主要缺陷
33.2解决的技术问题
33.3提供的技术方案
33.3.1结构
33.3.2原理
33.3.3优点
33.3.4具体步骤
第34章对随机约束程序块的控制管理及重用的方法
34.1背景技术方案及缺陷
34.1.1现有方案
34.1.2主要缺陷
34.2解决的技术问题
34.3提供的技术方案
34.3.1结构
34.3.2原理
34.3.3优点
34.3.4具体步骤
第35章随机约束和覆盖组同步技术
35.1背景技术方案及缺陷
35.1.1现有方案
35.1.2主要缺陷
35.2解决的技术问题
35.3提供的技术方案
35.3.1结构
35.3.2原理
35.3.3优点
35.3.4具体步骤
第36章在随机约束对象中实现多继承的方法
36.1背景技术方案及缺陷
36.1.1现有方案
36.1.2主要缺陷
36.2解决的技术问题
36.3提供的技术方案
36.3.1结构
36.3.2原理
36.3.3优点
36.3.4具体步骤
第37章支持动态地址映射的寄存器建模方法
37.1背景技术方案及缺陷
37.1.1现有方案
37.1.2主要缺陷
37.2解决的技术问题
37.3提供的技术方案
37.3.1结构
37.3.2原理
37.3.3优点
37.3.4具体步骤
第38章对寄存器突发访问的建模方法
38.1背景技术方案及缺陷
38.1.1现有方案
38.1.2主要缺陷
38.2解决的技术问题
38.3提供的技术方案
38.3.1结构
38.3.2原理
38.3.3优点
38.3.4具体步骤
第39章基于UVM存储模型的寄存器突发访问的建模方法
39.1背景技术方案及缺陷
39.1.1现有方案
39.1.2主要缺陷
39.2解决的技术问题
39.3提供的技术方案
39.3.1结构
39.3.2原理
39.3.3优点
39.3.4具体步骤
第40章寄存器间接访问的验证模型实现框架
40.1背景技术方案及缺陷
40.1.1现有方案
40.1.2主要缺陷
40.2解决的技术问题
40.3提供的技术方案
40.3.1结构
40.3.2原理
40.3.3优点
40.3.4具体步骤
第41章基于UVM的存储建模优化方法
41.1背景技术方案及缺陷
41.1.1现有方案
41.1.2主要缺陷
41.2解决的技术问题
41.3提供的技术方案
41.3.1结构
41.3.2原理
41.3.3优点
41.3.4具体步骤
第42章对片上存储空间动态管理的方法
42.1背景技术方案及缺陷
42.1.1现有方案
42.1.2主要缺陷
42.2解决的技术问题
42.3提供的技术方案
42.3.1结构
42.3.2原理
42.3.3优点
42.3.4具体步骤
42.3.5算法性能测试
42.3.6备注
第43章简便且灵活的寄存器覆盖率统计收集方法
43.1背景技术方案及缺陷
43.1.1现有方案
43.1.2主要缺陷
43.2解决的技术问题
43.3提供的技术方案
43.3.1结构
43.3.2原理
43.3.3优点
43.3.4具体步骤
第44章模拟真实环境下的寄存器重配置的方法
44.1背景技术方案及缺陷
44.1.1现有方案
44.1.2主要缺陷
44.2解决的技术问题
44.3提供的技术方案
44.3.1结构
44.3.2原理
44.3.3优点
44.3.4具体步骤
第45章使用C语言对UVM环境中寄存器的读写访问方法
45.1背景技术方案及缺陷
45.1.1现有方案
45.1.2主要缺陷
45.2解决的技术问题
45.3提供的技术方案
45.3.1结构
45.3.2原理
45.3.3优点
45.3.4具体步骤
第46章提高对寄存器模型建模代码可读性的方法
46.1背景技术方案及缺陷
46.1.1现有方案
46.1.2主要缺陷
46.2解决的技术问题
46.3提供的技术方案
46.3.1结构
46.3.2原理
46.3.3优点
46.3.4具体步骤
第47章兼容UVM的供应商存储IP的后门访问方法
47.1背景技术方案及缺陷
47.1.1现有方案
47.1.2主要缺陷
47.2解决的技术问题
47.3提供的技术方案
47.3.1结构
47.3.2原理
47.3.3优点
47.3.4具体步骤
47.3.5备注
第48章应用于芯片领域的代码仓库管理方法
48.
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