半导体器件失效分析一版一印
￥ 116 ￥ 8.1 八五品
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河南信阳
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作者邓永孝
出版社宇航出版社
ISBN9787800343636
出版时间1991-04
版次1
印刷时间1991-04
印次1
印数2.4千册
装帧平装
开本32开
字数276千字
定价8.1元
货号老3
上书时间2024-12-02
商品详情
- 品相描述：八五品
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