基于离子通道理论建模的可靠性分析及退化数据的统计分析

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北京东城

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作者张权,李明侠

出版社哈尔滨工程大学出版社

ISBN9787566135964

出版时间2022-07

装帧平装

开本16开

定价45元

货号1202805385

上书时间2024-09-22

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商品描述: 内容摘要
本书分两部分共8章，第1部分介绍了基于离子通道理论的可靠性分析，第2部分介绍了基于退化数据的可靠性分析及统计分析。8章内括离子通道理论与聚合随机过程、依据逗留时间分类的聚合随机模型状态指标分析、多状态聚合马尔可夫模型状态指标的分析、交替更新过程下可忽略工作时间和故障时间的聚合随机模型的研究、具有两个阈值的聚合随机模型指标的研究、基于性能退化数据的可靠性分析、基于小样本故障数据的可靠性建模与分析和基于定数截尾样本的数控机床的可靠性评估。本书内容新颖、全面、系统，具有重要的理论和实践意义，可为复杂系统的可靠性分析和退化数据的统计分析提供理论依据。本书可供从事可靠性数学、应用数学、系统数据统计分析研究工作的科研人员参考使用，也可作为管理科学与工程、系统工程等相关专业的研究生、教师等学学用书。

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