正版全新先进集成电路电磁兼容测试与建模 发射 免疫和信号完整性问题上对电路及其周围环境进行建模的概念 优选集成电路的技术和性能趋势
9787118126075
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天津武清
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作者亚历山大·博耶
出版社国防工业出版社
ISBN9787118126075
出版时间2022-10
装帧平装
开本16开
上书时间2024-06-19
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商品详情
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