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集成电路测试技术基础

无光盘

30 八五品

仅1件

上海奉贤
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作者姜岩峰 张晓波 杨兵 编著

出版社化学工业出版社

出版时间2008-09

版次1

印刷时间2008-09

印次1

装帧平装

开本16开

页数170页

货号JD-30

上书时间2024-05-22

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   商品详情   

品相描述:八五品
私藏,扉页有购者字迹,内页有少量字划,页面尚整洁

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