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作者[美]杜经宁(King-Ning Tu) 著;赵修臣、霍永隽、宁先进 译
出版社北京理工大学出版社
出版时间2021-05
版次1
装帧平装
货号3326219
上书时间2024-03-25
(1)原作者简介
杜经宁( King-Ning Tu)
杜经宁,男,博士,著名华人材料学者,台湾中央研究院院士,1937年12月生。现任美国加州大学洛杉矶分校材料科学与工程学系教授,并于国立交通大学材料系担任讲座教授。曾在国际半导体生产巨头IBM公司的华生研究中心工作长达25年。发表高水平学术论文400篇以上,总被引次数超过20800次,影响因子达77,其中单篇引用率超过100次的多达18篇,授权美国发明专利11项。先后荣获IBM研究部突出贡献奖、洪堡研究奖、冶金协会应用实践奖等荣誉。
(2)第一译者简介
赵修臣
赵修臣,男,博士,副教授,1971年10月生,吉林通化人。现任北京理工大学电子封装技术专业责任教授兼教学主任,国防科技工业元器件封装技术创新中心专家委员会委员。主要从事电子封装材料与先进封装技术、电子器件互连可靠性测试分析、微纳材料制备及应用、新型合金研制等方面的研究,先后主持并参与完成了科工局基础科研、国家科技支撑、总装预研、总装预研基金及航天创新基金等多项科研工作,在CHEM ENG J、J ALLOY COMPD、J COLLOID INTERF SCI、JPCC、RSC ADV、PCCP、JMSE、MSEA等国内外学术期刊发表学术论文八十余篇,获批国家发明专利十余项,并于2018年获得中国产学研合作创新成果二等奖1项 。
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