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数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度

12 2.1折 58 八品

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重庆大渡口
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作者李晓维 著

出版社科学出版社

ISBN9787030278944

出版时间2010-06

版次1

装帧精装

开本16开

纸张胶版纸

页数344页

字数433千字

定价58元

货号2

上书时间2024-10-23

创新书城1号店

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   商品详情   

品相描述:八品
书壳有破损,内页和书口有印章印

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