全新正版 残余应力基础理论及应用(精)/高端装备关键基础理论及技术丛书 高玉魁 9787547844069 上海科技
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作者高玉魁
出版社上海科技
ISBN9787547844069
出版时间2019-07
装帧其他
开本其他
定价150元
货号30660728
上书时间2023-04-10
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目录
符号表
第1章 绪论
1.1 内应力分类
1.1.1 宏观内应力
1.1.2 微观内应力
1.2 工程中常见的残余应力
1.2.1 焊接残余应力
1.2.2 铸造残余应力
1.2.3 切削残余应力
1.2.4 磨削残余应力
1.2.5 热处理残余应力
1.2.6 薄膜残余应力
1.2.7 涂层残余应力
1.3 残余应力的影响
1.3.1 残余应力对变形的影响
1.3.2 残余应力对尺寸稳定性的影响
1.3.3 残余应力对加工精度的影响
1.3.4 残余应力对疲劳性能的影响
1.3.5 残余应力对脆性断裂的影响
1.3.6 残余应力对应力腐蚀开裂的影响
1.3.7 残余应力对硬度的影响
1.4 残余应力检测技术概况
参考文献
第2章 残余应力无损检测技术
2.1 纳米压痕技术
2.1.1 纳米压痕技术的理论方法
2.1.2 纳米压痕技术检测原理
2.2 拉曼光谱技术
2.2.1 拉曼光谱技术的产生
2.2.2 拉曼光谱的特点
2.2.3 拉曼光谱技术种类
2.2.4 拉曼光谱技术检测原理
2.3 磁测技术
2.3.1 磁记忆检测技术
2.3.2 磁噪声技术
2.3.3 磁应变技术
2.3.4 磁声发射技术
2.4 超声波技术
2.4.1 超声波技术检测残余应力的特点
2.4.2 超声波技术检测残余应力的发展现状
2.4.3 超声波技术检测原理
2.4.4 超声波应力检测系统
2.5 扫描电子声显微镜
2.5.1 扫描电子声显微镜检测原理
2.5.2 扫描电子声系统
2.6 X射线衍射技术
2.6.1 布拉格定律
2.6.2 X射线衍射检测原理
2.6.3 X射线衍射技术检测残余应力的特点
2.7 中子衍射技术
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