计算机测试与控制技术
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作者李行善,于劲松
出版社北京航空航天大学出版社
ISBN9787512430051
出版时间2019-09
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数575页
字数783千字
定价119元
货号SC:9787512430051
上书时间2024-11-02
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商品详情
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作者简介:
内容简介:
“计算机测试与控制技术”综合了传感器、信号调理、微型计算机原理与接口、数字信号处理、控制理论、模式识别等多学科理论与技术，是一门具有较强工程应用背景的专业课程。本书从工程应用的角度研究计算机测试与控制所涉及的理论与方法，使读者全面、系统地了解和掌握计算机测控工程系统的设计与实现方法。本书将计算机测控系统所涉及的共性问题，如计算机接口技术、测控总线技术、常用测控算法、软硬件抗干扰技术、测控系统的设计方法等归纳编写成独立章节进行讲述，便于读者根据实际工程需要有针对性地学习。
本书将计算机测试与控制一般性理论和方法的讲述与大量应用实例相结合，不仅便于读者理解掌握理论知识，也可为解决实际工程应用中类似问题提供有益的参考。本书可作为自动化等相关专业的本科高年级教材，也可作为相关专业工程技术人员的常用设计参考书。
目录:
第1章绪论/1
1.1测试与控制技术的应用与发展/1
1.1.1测试与控制技术的应用领域/1
1.1.2计算机在测控系统中的应用与发展/2
1.2计算机测试系统的组成和典型应用/3
1.2.1计算机测量系统/3
1.2.2智能仪器——微型计算机与测量仪器的有机结合/4
1.2.3计算机过程测试系统//5
1.2.4计算机智能测试系统//7
1.3计算机控制系统的组成与典型应用/10
1.3.1程序控制和顺序控制系统/10
1.3.2过程监测与操作指导系统/10
1.3.3计算机反馈控制系统/11
1.3.4计算机监督控制系统/12
1.3.5集散型控制系统/12
1.3.6计算机控制网络/14
1.4计算机测控系统/15
1.4.1测控系统硬件组成/15
1.4.2测控系统软件/17
1.5本书的内容组织/17
……
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