国外大学优秀教材·材料科学与工程系列：透射电子显微学（4卷本）（影印版）

图书标准信息

• 作者 [美]威廉斯、[美]卡特 著
• 出版社 清华大学出版社
• 出版时间 2007-08
• 版次 1
• ISBN 9787302155294
• 定价 89.00元
• 装帧 平装
• 开本 4开
• 纸张 胶版纸
• 页数 729页

【内容简介】

　　本书是美国最为流行的教科书之一。它分为4卷：基本概念，衍射理论，成像原理及能谱分析。其中第1卷主要讲解电子显微镜的基本概念，包括衍射基础知识、显微镜的组成部件、仪器构造与功能以及样品制备。第2卷介绍衍射图像、倒易点阵、衍射电子像的标定，以及各种衍射分析方法。第3卷主要是关于成像原理。该卷对材料研究中典型的课题进行系统的介绍。比如晶体缺陷、内应力、相分析等。该卷还着重介绍了高分辨电子显微镜和图像模拟。第4卷讨论各种能谱的分析方法与技术。比如X射线谱、X射线定量定性分析、电子能量损失谱、离子能量损失谱等。在电子显微学研究中最为基本的理论是衍射理论，因而该书利用相当大的篇幅介绍衍射理论以及与其紧密相关的晶体结构，这些知识是材料学专业的重要基础理论之一。
　　本书作为教材很有创新性，而且把这一通用的材料表征技术的实际应用进行了必要的介绍和论述，是短时间内掌握电子显微镜的最佳学习途径，无论是电子显微镜初学者还是高级研究人员都将开卷有益。它也是亚马逊网上书店最畅销的教材之一。

【目录】

ⅠBasics
1TheTransmissionElectronMicroscope
2ScatteringandDiffraction
3ElasticScattering
4InelasticScatteringandBeamDamage
5ElectronSources
6Lenses,Apertures,andResolution
7Howto“See”Electrons
8PumpsandHolders
9TheInstrument
10SpecimenPreparation
ⅡDiffraction
11DiffractionPatterns
12ThinkinginReciprocalSpace
13DiffractedBeams
14BlochWaves
15DispersionSurfaces
16DiffractionfromCrystals
17DiffractionfromSmallVolumes
18IndexingDiffractionPatterns
19KikuchiDiffraction
20ObtainingCBEDPatterns
21UsingConvergent-BeamTechniques
ⅢImaging
22ImagingintheTEM
23ThicknessandBendingEffects
24PlanarDefects
25StrainFields
26Weak-BeamDark-FieldMicroscopy
27Phase-ContrastImages
28High-ResolutionTEM
29ImageSimulation
30QuantifyingandProcessingHRTEMImages
31OtherImagingTechniques
ⅣSpectrometry
32X-raySpectrometry
33TheXEDS-TEMIterface
34QualitativeX-rayAnalysis
35QualitativeX-rayMicroanalysis
36SpatialResolutionandMinimumDetectability
37ElectronEnergy-LossSpectrometers
38TheEnergy-LossSpectrum
39Microanalysiswithlonization-LossElectrons
40EverythingElseintheSpectrum