现代催化研究方法新编 上、下册 辛勤，罗孟飞，徐杰 9787030580511 科学出版社
9787030580511
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作者wuming
出版社科学出版社
ISBN9787030580511
出版时间2020-01
装帧平装
开本16开
货号749245529841
上书时间2023-12-03
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现代催化研究方法新编（上、下册）
定：238.00
出版社：科学出版社
出版时间：2018-07-01
ISBN编码：9787030580511
《现代催化研究方法新编（上、下册）》在《现代催化研究方法》一书的基础上，根据催化与材料科学技术迅速发展的现状，及时充实新内容、扩大新领域，以“新编版”呈现。《现代催化研究方法新编（上、下册）》更注重新技术、新原理的引入和与生产实践相关联的实用性，并增加了能源科技等相关新领域的介绍。《现代催化研究方法新编（上、下册）》共分上、下两册。上册括：物理吸附和催化剂的宏观物性测定、透射电子显微镜、热分析方法、多晶X射线衍射分析、化学吸附和程序升温技术、催化过程的拉曼光谱方法、原位红外光谱方法；下册括：核磁共振方法、表面分析技术基础、多相催化反应动力学、电化学催化研究方法、扫描探针显微镜与纳米光谱技术。
丛书序序《现代催化研究方法》前言第1章 物理吸附和催化剂的宏观物性测定 11.1 吸附与物理吸附 31.1.1 固气表面上的吸附 31.1.2 物理吸附的理论模型 121.2 催化剂的宏观物性测定 321.2.1 表面积 321.2.2 孔容和孔尺寸分布 431.2.3 颗粒度测定 611.2.4 密度测定 751.2.5 催化剂机械强度的测定 78参考文献 80第2章 透射电子显微镜 852.1 透射电子显微镜简介 882.1.1 电子枪 892.1.2 照明系统 902.1.3 物镜 912.1.4 中间镜和投影镜 932.1.5 记录系统 932.2 电子衍射和成像 942.2.1 电子物质相互作用 942.2.2 电子衍射 952.2.3 透射电子显微镜成像 1012.3 扫描透射电子显微镜 1102.4 分析电子显微镜 1132.4.1 X射线能谱 1132.4.2 电子能量损失谱 1172.5 电子显微镜中样品的辐射损伤 1192.6 电子显微镜在多相催化中的应用 1212.6.1 试样的制备 1222.6.2 催化剂粒子大小分布 1222.6.3 金属纳米颗粒的原子结构 1242.6.4 二元金属粒子的化学组分和结构 1282.6.5 金属载体相互作用 1312.6.6 催化剂表面结构 1362.6.7 过渡族金属氧化物催化剂 1402.6.8 电子能量损失谱在研究催化材料中的应用 1432.7 新型透射电镜 1472.7.1 球差修正的透射电镜/扫描透射电镜 1472.7.2 高能量分辨率扫描透射电子显微镜 1492.7.3 三维电子显微术 1512.7.4 电子全息成像 1542.7.5 原位环境透射电子显微镜 1542.8 透射电子显微镜的局限性及注意事项 1602.9 结束语 162参考文献 163第3章 热分析方法 1693.1 热分析的分类 1713.2 几种常用的热分析技术 1743.2.1 热重法 1743.2.2 差热分析 1753.2.3 差示扫描量热法 1773.2.4 温度调制式差示扫描量热法 1783.3 热分析动力学简介 1803.4 热分析在催化研究中的应用 1813.4.1 催化剂性能方面的研究 1823.4.2 动力学研究 1903.4.3 纯硅分子筛结构的热力学研究 1933.4.4 在储氢、制氢领域中的应用 1943.5 热分析联用技术 2013.5.1 热重分析与FTIR光谱仪联用（TG-IR）技术 2013.5.2 热重分析与质谱仪联用（TG-MS）技术 2033.5.3 热重-红外-质谱联用（TG-IR-MS）技术 2053.5.4 X射线吸收细结构谱-差示扫描量热联用（XAFS-DSC）技术 2073.5.5 X射线衍射-差示扫描量热联用（XRD-DSC）技术 2083.6 热分析实验技巧 2093.6.1 升温速率的影响 2093.6.2 样品用量的控制 2093.6.3 气氛的选择 2093.6.4 坩埚加盖与否的选择 2103.6.5 DSC基线 2113.7 结束语 212符号说明 212参考文献 215第4章 多晶X射线衍射分析 2194.1 晶体学基础：周期性与对称性 2224.1.1 晶体的空间点阵与周期性 2224.1.2 晶体的对称性 2234.1.3 晶面与晶面符号，晶面指标与衍射指标 2324.2 X射线的性质及其与物质的作用 2344.2.1 X射线谱：连续谱和征谱 2344.2.2 X射线与物质的相互作用 2354.2.3 K吸收、二次荧光与X射线的单色化 2364.3 衍射的几何原理：倒易空间与衍射方法 2384.3.1 倒易格子与正格子的关系 2384.3.2 倒易点阵的应用：X射线衍射原理 2394.3.3 衍射方法与衍射数据的获得 2424.4 晶体对X射线的衍射 2444.4.1 衍射峰的位置与晶面间距 2444.4.2 多晶X射线衍射峰的强度 2454.4.3 原子的散射因子与晶体的结构因子 2474.4.4 衍射的系统消光 2504.5 X射线衍射物相鉴定与相定量分析 2544.5.1 X射线衍射物相定性分析 2544.5.2 X射线衍射物相定量分析 2584.6 衍射图的指标化 2644.6.1 立方晶系指标化方法：解析法 2654.6.2 Hesse-Lipson解析法 2664.6.3 常见指标化程序原理和方法 2674.6.4 指标化结果的判断：品质因子 2684.7 衍射峰的宽化与Scherrer方程 2704.7.1 Scherrer方程：物理意义与数学表达 2704.7.2 衍射峰分析与Scherrer方程应用 2744.8 多晶X射线衍射结构分析的重要方法——Rietveld法 2784.8.1 Rietveld方法的基本原理 2794.8.2 峰性拟合 2834.9 多晶X射线衍射数据分析数例 2844.9.1 晶胞参数的修 2844.9.2 催化材料物相的确认与相定量 286
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