现代集成电路测试技术

图书标准信息

• 作者 时万春 著
• 出版社 化学工业出版社
• 出版时间 2006-05
• 版次 1
• ISBN 9787502581312
• 定价 95.00元
• 装帧 平装
• 开本 16开
• 纸张 其他
• 页数 540页

【内容简介】

全书分上下篇，上篇主要介绍了数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准等内容，下篇重点介绍了数字／模拟／数模混合信号等三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证系统等内容，并特别关注了以SOC测试、基于DFT测试、RAM测试为主要特点的新类别测试系统和基于标准总线集成电路测试系统的发展，《现代集成电路测试技术》可作为从事微电子测试和设计工作的研究人员、技术人员，以及准备进入该领域的管理人员的学习和培训教材，也可作为高等院校相关专业师生的教材和参考书。
全书按集成电路测试原理和集成电路测试设备划分为上、下篇。根据现代集成电路测试技术发展和专业测试需求，上篇主要介绍数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准；下篇重点介绍数字／模拟／数模混合信号等三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证系统，同时特别关注了以SOC测试、基于DFT测试、RAM测试为主要特点的新类别测试系统和基于标准总线集成电路测试系统的发展，并安排了测试系统计量和自动分选机／探针测试台两个专题。
《现代集成电路测试技术》可作为从事微电子测试和设计工作的研究人员、技术人员，以及准备进入该领域的管理人员的学习和培训教材，也可作为高等院校相关专业师生的教材和参考书。

【目录】

上篇集成电路测试原理
第1章概述
1.1测试的意义
1.2测试的分类
1.3测试成本与产品质量
参考文献
第2章逻辑模拟与故障模拟
2.1电路模型及简单的结构分析
2.2信号状态模型
2.3定时模型
2.4故障模型及故障精简
2.5故障效应的传播
2.6逻辑模拟算法
2.7故障模拟算法
2.8时序电路的逻辑模拟和故障模拟
参考文献
第3章可测性度量
3.1可测性度量的基本概念
3.2可测性的度量
参考文献
第4章测试生成
4.1测试生成方法分类
4.2测试生成算法中的一些基本概念和技术
4.3单路径敏化法
4.4D-算法
4.59值算法
4.6PODEM算法
4.7FAN算法
4.8布尔差分法
4.9布尔满足法
4.10面向电路的测试生成方法
4.11组合ATPG算法研究进展
4.12时序电路测试生成
4.13高层设计的测试生成
4.14测试生成系统
参考文献
第5章可测性设计方法和技术
5.1可测性设计的基本概念
5.2专门的可测性设计方法
5.3基于扫描的可测性设计技术
5.4全速测试和全速扫描测试技术
5.5特征分析测试方法简介及内建自测试
5.6边界扫描设计技术一
5.7可测性设计规则综述
参考文献
第6章设计验证技术
6.1设计验证技术基本概念
6.2设计的模拟验证
6.3设计的形式验证和断言验证
6.4设计验证辅助功能测试向量的制成
6.5现代数字集成电路芯片设计验证的语言
参考文献
第7章测试数据压缩技术
7.1测试数据压缩的缘由、特点和方法概述
7.2Huffman编码
7.3游程编码的方法
7.4Golomb码的数学基础和数据压缩
7.5快速编码的优势和特点
7.6二维压缩编码方法的基本实践
7.7数据压缩的硬件实施方法和措施
参考文献
第8章测试开发系统
8.1测试语言
8.2测试程序
8.3测试开发环境
8.4测试转换系统
8.5测试设备脱机开发环境
参考文献
第9章混合信号集成电路测试
9.1概况
9.2采样理论
9.3基于DSP的测试
9.4基于模型的测试
9.5DAC测试
9.6ADC测试
9.7混合信号DFT和BIST
参考文献
第10章IDDQ测试
10.1IDDQ基本原理
10.2IDDQ测试生成
10.3IDDQ可测性设计
10.4IDDQ监控器设计
10.5△IDDQ测试
10.6深亚微米IDDQ测试
10.7未来方向
参考文献
第1l章SOC测试
11.1概况
11.2SOC测试困难
11.3测试访问机制
11.4测试外壳
11.5内核测试
11.6SOC系统测试
11.7测试标准
11.8内核测试语言
11.9未来的挑战
参考文献
第12章集成电路测试标准
12.1集成电路相关标准机构
12.2国际集成电路测试标准介绍

下篇集成电路测试设备
第13章集成电路测试系统概述
13.1集成电路测试系统发展概述
13.2集成电路测试系统分类
13.3集成电路测试系统专用集成电路
13.4分布式集成电路测试系统
参考文献
第14章集成电路测试验证系统
14.1集成电路测试验证要求和测试验证系统发展
14.2第1代测试验证手段和系统
14.3第2代测试验证系统的构成
14.4第3代测试验证系统的特点
14.5现代测试验证系统的要求和特点
参考文献
第15章数字集成电路测试系统
15.1数字集成电路测试系统原理
15.2数字SSI／MSI测试系统
15.3数字LSI／VLSI测试系统
参考文献
第16章RAM测试技术和测试系统
16.1RAM的基本组成及结构
16.2RAM测试
16.3RAM测试系统
参考文献
第17章模拟集成电路测试系统
17.1模拟电路的测试需求
17.2模拟电路测试系统的系统结构
17.3模拟测试系统仪器构成原理
17.4现代模拟集成电路测试系统
参考文献
第18章数模混合信号集成电路测试系统
18.1混合信号电路对测试的需求
18.2混合信号电路测试系统的体系结构
18.3混合信号电路测试系统的同步
18.4混合信号测试的特殊仪器
18.5混合信号电路测试系统
第19章基于标准总线的集成电路测试系统
19.1基于标准总线的集成电路测试系统发展
19.2虚拟仪器
19.3自动测试系统软件体系结构
19.4基于标准总线的通用集成电路测试系统举例
参考文献
第20章基于DFT测试仪
20.1传统ATE
20.2DFT测试仪
20.3测试方法
20.4DFT测试应用
20.5DFT测试仪与传统ATE区别
20.6一种边界扫描DFT测试系统--JTAG
参考文献
第21章SOC测试系统
21.1SOC测试特性
21.2SOC测试系统特性
21.3SOC测试系统
参考文献
第22章集成电路测试系统的计量
22.1量值溯源基础
22.2集成电路测试系统校准与参数溯源的基础原理
22.3集成电路测试系统校准与参数溯源方法介绍
22.4集成电路测试系统国家校准规程
参考文献
第23章集成电路测试辅助设备
23.1自动分选机
23.2探针测试台
参考文献
索引