&电子产品可靠性分析与风险评估
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作者责编：胡翠敏\\\\白天明 编；陈颖\\\\康锐
出版社国防工业出版社
ISBN9787118124286
出版时间2022-01
版次1
装帧其他
开本16开
纸张胶版纸
页数191页
字数222千字
定价98元
货号迎景苑1
上书时间2024-09-15
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商品详情
- 品相描述：全新
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