近代光学测试技术

图书标准信息

• 作者 杨国光 著
• 出版社 浙江大学出版社
• 出版时间 1997-01
• 版次 1
• ISBN 9787308019514
• 定价 39.00元
• 装帧 平装
• 开本 其他
• 纸张 其他

【内容简介】

随着近代科学技术和工业技术的迅速发展，传统的光学机械测试方法已日益不适应近代工业和科学技术提出的高精度。高效率与自动化的测试要求。在精密测试领域中，必须注入新的活力，激光和计算机技术的出现和二者的结合为新的测试技术开辟了一条新的途径。为促进精密测试技术和光学工业本身的现代化和便于各学科之间的相互促进和渗透，我们根据科研与教学工作的需要，从近代光学的角度，系统的编写了这《近代光学测试技术》。

【目录】

前章光学测试技术综述
编著：杨国光
§0-1　领域与特点
一、研究领域
二、技术特色
§0-2　技术现状
§0-3　方法的选择
§0-4　技术发展的方向
本章参考文献
第一章　光干涉技术
　编著：卓永模
§1-1　光干涉的基础知识
一、相干光场的性质
　二、两个相干波的叠加
　三、部分相干理论
　四、干涉仪常用的光源及激光光源
　五、干涉条纹的间隔和形状
§l－2　近代干涉测试技术
　一、泰曼一格林干涉仪测试
　二、典型的双光束干涉图及其分析
　三、任意波前的干涉图分析
　四、共路干涉仪测试
§1－3　多通道干涉仪测试
　一、双通道干涉仪
　二、多通道干涉仪
§1—4　波面位相的实时检测技术
　一、条纹扫描波面位相实时检测
　二、共路错位扫描干涉仪
　三、实时横向错位干涉仪
　四、外差干涉位相检测
　五、锁相干涉技术
　六、双波长条纹扫描干涉仪
　七、空间调制的波面位相检测
§1-5　长度(间隔、高度、振幅)的激光干涉
　一、激光干涉测长的工作原理及特点
　二、激光干涉测长应解决的几个问题
　三、激光干涉测长的应用
……