片上系统测试设计与优化

图书标准信息

• 作者 （瑞典）埃里克·拉森（erik larsson）
• 出版社 科学出版社
• 出版时间 2024-01
• 版次 1
• ISBN 9787030769183
• 定价 88.00元
• 装帧 其他
• 开本 16开
• 页数 328页
• 字数 368千字

【内容简介】

本书旨在讨论片上系统（oc）测试的相关问题，包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。需要测试的系统越来越复杂，测试数据量不断增加，如何组织测试，即测试调度变得越来越重要。本书主要站在系统级的角度阐明模块化oc测试领域的诸多问题。本书由三部分组成，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构oc面临的挑战和困难，并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。本书可供电子科学与技术、微电子工程、计算机工程与技术等专业师生阅读，也可作为软件测试领域从业者的参用书。

【目录】

部分经典测试方法

章绪论2

第2章设计流程5

2.1引言5

2.2高层级设计5

2.3基于内核的设计6

2.4时钟8

2.5优化技术12

第3章可测设计17

3.1引言17

3.2可测设计方法25

3.3混合信号测试41

第4章边界扫描42

4.1引言42

4.2边界扫描标准42

4.3模拟测试线48

第2部分soc的可测设计

第5章系统建模54

5.1引言54

5.2内核建模55

5.3源端测试建模58

5.4内核封装器59

5.5测试访问机制60

第6章测试61

6.1引言61

6.2测试仪器的局限61

6.3测试64

6.4讨论70

第7章测试功耗71

7.1引言71

7.2功耗72

7.3系统级功耗建模73

7.4功耗网的热点建模74

7.5内核级功耗建模76

7.6讨论79

第8章测试访问机制80

8.1引言80

8.2测试访问机制设计87

8.3测试时间分析92

第9章测试调度95

9.1引言95

9.2固定测试时间的测试调度98

9.3不固定（可变）测试时间的测试调度106

9.4很好测试时间120

9.5集成测试调度和tam设计127

9.6测试设计流程中的集成内核选择131

9.7进一步研究134

第3部分soc测试应用

0章可重构的功耗敏感内核封装器136

10.1引言136

10.2背景和相关工作138

10.3可重构的功耗敏感型内核封装器140

10.4很好测试调度142

10.5实验结果151

10.6结论155

1章用于设计和优化soc测试解决方案的综合框架156

11.1引言156

11.2背景和相关工作157

11.3系统建模160

11.4soc测试相关问题162

11.5启发式算法169

11.6模拟退火算法172

11.7实验结果175

11.8结论180

2章基于内核设计的高效测试解决方案181

12.1引言181

12.2背景和相关工作183

12.3测试问题186

12.4我们的方法200

12.5实验结果208

12.6结论213

3章片上系统测试设计流程中的内核选择214

13.1引言214

13.2背景215

13.3相关工作217

13.4问题构建220

13.5测试问题及其建模222

13.6测试设计算法227

13.7实验结果232

13.8结论233

4章缺陷检测与测试调度235

14.1引言235

14.2相关工作236

14.3顺序测试调度237

14.4并行测试调度238

14.5测试调度算法241

14.6实验结果243

14.7结论246

5章ate内存约束下的测试向量选择和测试调度集成247

15.1引言247

15.2相关工作249

15.3问题构建250

15.4测试质量指标251

15.5测试调度和测试向量选择254

15.6实验结果259

15.7结论271

附录设计基准273

附.1引言273

附.2输入文件的格式273

附.3kime设计275

附.4muresan10设计276

附.5muresan20设计278

附.6asic z279

附.7扩展asic z281

附.8system l283

附.9ericsson（爱立信）设计285

附.10system s297

参文献301