专用集成电路低功耗入门：分析、技术和规范 [美]拉凯什·查达

图书标准信息

• 作者 （美）拉凯什·查达 J.巴斯卡尔
• 出版社 机械工业出版社
• 出版时间 2021
• 版次 1
• ISBN 9787111745907
• 定价 89.00元
• 装帧 平装
• 开本 16开
• 页数 216页
• 字数 266千字

【内容简介】

本书重点关注cmo数字专用集成电路（aic）设备，集中探讨了三个主要内容：如何分析或测量功耗，如何为设备指定功耗意图，以及可以用什么技术小化功耗。本书采用易于阅读的风格编写，章节间几乎没有依赖关系，读者可以直接跳到感兴趣的章节进行阅读。本书起始章节主要介绍如何测量功耗；随后的章节介绍低功耗的实现策略；尤其在后，还介绍了可用于描述功耗意图的语言。

本书适合从事芯片设计或具备逻辑设计背景的工程技术人员阅读，也可作为高等院校集成电路科学与工程、电子科学与技术、微电子学与固体电子学等专业的高年级本科生和的教材和参书。

【作者简介】

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    拉凯什·查达（Rakesh Chadha）是一名资深计算机辅助工程与设计专家，拥有逾25年的专业经验，其中18年深耕于项目领导与技术管理领域。他在Sematech项目中的芯片寄生效应提取和信号完整性验证方面，主管时序和信号完整性工作。他是eSilicon公司的设计技术总监，负责复杂的SOC设计方法学。

【目录】

前言

致谢

章 引言1

1.1 什么是功耗1

1.2 为什么功耗很重要2

1.3 为什么功耗越来越大2

1.4 功耗去哪了3

1.5 多少才算低4

1.6 为什么要测量5

1.7 对设计复杂度的影响6

1.8 本书概要7

第2章 核心逻辑中的功耗建模8

2.1 数字设计中的功耗8

2.1.1 使用理想开关的例子8

2.1.2 cmos数字逻辑10

2.2 动态或活动功耗14

2.2.1 组合单元的活动功耗14

2.2.2 时序单元的活动功耗17

2.2.3 功耗对参数的依赖19

2.3 泄漏功耗20

2.3.1 对阈值电压的依赖 20

2.3.2 对沟道长度的依赖20

2.3.3 对温度的依赖21

2.3.4 对工艺的依赖21

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