电子元器件检测与使用速成
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作者薛文，华慧明[编]
出版社福建科学技术出版社
出版时间2005
印刷时间2006
装帧平装
开本32开
页数251页
上书时间2024-08-05
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商品详情
- 品相描述：八品
- 外封和少部分内页有折痕、黄渍、小扯口。
- 商品描述
- 本书介绍了各种常用电子元器件，特别是集成电路的识别、检测和使用的基本方法和技巧；主要介绍了如何使用一块经济、实用的万用表来粗略测试电子元器件的主要性能参数，并判断该元器件的好坏。
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