表面分析技术/(英)约翰.c.维克曼,(英)伊恩.s.吉尔 大中专文科文教综合 (英)约翰·c.维克曼，(英)伊恩·s.吉尔摩编；陈建等译
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作者(英)约翰·c.维克曼，(英)伊恩·s.吉尔摩编；陈建等译
出版社中山大学出版社
ISBN9787306066893
出版时间2020-12
版次1
装帧平装
开本16
页数400页
字数732千字
定价200元
货号xhwx_1202207620
上书时间2024-12-13
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商品详情
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- 商品描述
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内容简介：
本书介绍表面分析主要技术，包括俄歇电子能谱、x线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散和卢瑟福背散技术、表面分子振动光谱技术以及扩展x线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本和实用样品实例分析，每章结尾处还附有相关的分析练题供读者训练，判断自己对书中知识内容掌握的程度。
作者简介：
陈建，中山大学研究员、博士生导师，主要研究领域包括材料的分子光谱和电子能谱分析、纳米材料表面和界面能研究等。
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