科学技术测度体系
正版实图，没笔记划线，书角有破痕可看图
￥ 10 5.0折 ￥ 20 八品
仅1件
重庆沙坪坝
认证卖家担保交易快速发货售后保障
作者[美]埃利泽·盖斯勒（Eliezer Geisler） 著；周萍 译
出版社科学技术文献出版社
出版时间2004
装帧其他
上书时间2024-07-01
- 在售商品 暂无
- 平均发货时间 5小时
- 好评率 暂无
商品详情
- 品相描述：八品
图书标准信息
- 作者 [美]埃利泽·盖斯勒（Eliezer Geisler） 著；周萍 译
- 出版社 科学技术文献出版社
- 出版时间 2004
- ISBN 9787502344870
- 定价 20.00元
- 开本 21cm
- 页数 380页
- 正文语种 简体中文
- 原著语种 English
- 【内容简介】
- 本书介绍了评估和测度科技及其成果的体系，概述了科技测度问题以及用于通常归之于科技旗号下的诸多活动的方法。展示了过去和现在通过测度技术成就的定性和定量属性来表现这些成就的尝试等内容。
点击展开
点击收起
相关推荐
— 没有更多了 —
以下为对购买帮助不大的评价