高速数字接口原理与测试指南

图书标准信息

• 作者 李凯 著
• 出版社 清华大学出版社
• 出版时间 2014-11
• 版次 1
• ISBN 9787302376118
• 定价 79.00元
• 装帧 平装
• 开本 16开
• 纸张 胶版纸
• 页数 411页
• 字数 691千字
• 正文语种 简体中文

【内容简介】

　　《高速数字接口原理与测试指南》结合作者多年从事高速数字设计和测试的经验，对高速数字信号的基本概念、测试原理进行讲解，同时结合现代计算机、移动设备、有线通信、航天设备里新的高速数字接口，对其关键技术、测试方法等做详细介绍和总结，以便于读者理解和掌握高速数字接口的基本原理、实现技术、测试理念以及其发展趋势。

　　《高速数字接口原理与测试指南》主要分为两个部分： 上半部分是高速数字信号的基本概念和测量原理； 下半部分是常用高速数字接口总线的技术特点和测试方法。

　　《高速数字接口原理与测试指南》可供从事计算机、移动终端、有线通信、航空航天设备开发的工程人员了解学习高速数字总线的相关技术，也可供高校工科电子类的师生做数字电路、信号完整性方面的教学参考。

【作者简介】

　　李凯，毕业于北京理工大学光电工程系，硕士学位，曾在国内知名通信公司从事多年硬件研究。2006年加入安捷伦公司，负责高端示波器、逻辑分析仪、信号完整性分析等高速数字测试产品的应用和研究。对于通信、计算机等行业有深入认知，对信号完整性、嵌入式系统、高速总线、可编程逻辑、时钟、电源等电路的设计和测试有深刻理解。作为高速数字测试领域的专家，李凯利用业余时间撰写了大量关于高速信号测量原理、测量方法的文章并发布在《国外电子测量技术》、《电子工程专辑》等专业杂志以及IEEEICCP、EDICON等专业论坛大会上，同时在EDNChina网站开设有个人技术博客。

【目录】

上部高速数字信号测量原理
第1章无处不在的数字接口

第2章数字信号基础
2.1什么是数字信号(DigitalSignal)
2.2数字信号的上升时间(RisingTime)
2.3数字信号的带宽(Bandwidth)
2.4数字信号的建立/保持时间(Setup/HoldTime)
2.5并行总线与串行总线(ParallelandSerialBus)
2.6单端信号与差分信号(Single-endedandDifferentialSignals)
2.7数字信号的时钟分配(ClockDistribution)
2.8串行总线的8b/10b编码(8b/10bEncoding)
2.9伪随机码型(PRBS)
2.10传输线对数字信号的影响(TransmissionLineEffects)
2.11数字信号的预加重(Pre-emphasis)
2.12数字信号的均衡(Equalization)
2.13数字信号的抖动(Jitter)
2.14扩频时钟(SSC)

第3章数字测试基础
3.1数字信号的波形分析(WaveformAnalysis)
3.2数字信号的眼图分析(EyeDiagramAnalysis)
3.3眼图的参数测量(EyeDiagramMeasurement)
3.4眼图的模板测试(MaskTest)
3.5数字信号抖动的成因(RootCauseofJitter)
3.6数字信号的抖动分解(JitterSeperation)
3.7串行数据的时钟恢复(ClockRecovery)
3.8示波器的抖动测量能力(JitterMeasurementFloorofScope)
3.9相位噪声测量(PhaseNoiseMeasurement)
3.10传输线的特征阻抗(CharacteristicImpedance)
3.11特征阻抗的TDR测试(TimeDomainReflectometer)
3.12传输线的建模分析(TransmissionLineModelling)

第4章实时示波器原理
4.1模拟示波器(AnalogOscilloscope)
4.2数字存储示波器(DigitalStorageOscilloscope)
4.3示波器的带宽(Bandwidth)
4.4示波器的频响方式(FrequencyResponse)
4.5示波器带宽对测量的影响(BandwidthImpact)
4.6示波器的带宽增强技术(BandwidthEnhancementTechnology)
4.7示波器的频带交织技术(BandwidthInterleavingTechnology)
4.8示波器的采样技术(SamplingTechnology)
4.9示波器的分辨率(VerticalResolution)
4.10示波器的直流电压测量精度(DCVoltageAccuracy)
4.11示波器的时间测量精度(Delta-TimeAccuracy)
4.12示波器的等效位数(ENOB)
4.13示波器的高分辨率模式(HighResolution)
4.14示波器的内存深度(MemoryDepth)
4.15示波器的死区时间(DeadTime)
4.16示波器的显示模式(DisplayMode)
4.17示波器的触发(Trigger)
4.18示波器的触发条件(TriggerConditions)
4.19示波器的触发模式(TriggerMode)
4.20示波器的测量速度(Measurementupdaterate)
附录Agilent公司90000X系列高端示波器原理

第5章示波器探头原理
5.1高阻无源探头(HighImpedancePassiveProbe)
5.2无源探头的常用附件(PassiveProbeAccessories)
5.3低阻无源探头(LowImpedancePassiveProbe)
5.4有源探头(ActiveProbe)
5.5差分探头(DifferentialProbe)
5.6电流探头(CurrentProbe)
5.7高灵敏度探头(High-sensitivityProbe)
5.8探头连接前端对测量的影响(ProbeHead)
5.9探头衰减比对测量的影响(ProbeAttenuationRatio)
5.10探头的校准方法(ProbeCalibration)

第6章其他常用数字测量仪器

6.1采样示波器(Sampling Oscilloscope)

6.2矢量网络分析仪与TDR(VNA and TDR)

6.3逻辑分析仪(Logic Analyzer)

6.4协议分析仪(Protocol Analyzer)

6.5误码分析仪(Bit Error Ratio Tester)

附录1Agilent公司U4154A逻辑分析仪简介

附录2示波器协议解码功能和协议分析仪的区别

第7章常用测量技巧

7.1电源纹波噪声测试方法

7.2时间间隔测量

7.3如何用示波器进行ps级时间精度的测量

7.4怎样测量PLL电路的锁定时间

7.5T型头和功分器的区别

7.6如何克服测试电缆对高频测量的影响

第8章用多台仪器搭建自动测试系统

8.1自动化测试系统

8.2LXI测试系统的硬件平台

8.3LXI测试系统的软件架构

8.4LXI测试系统的优点

8.5LXI测试系统的兼容性问题

8.6LXI测试系统的时钟同步

8.7LXI测试系统的网络安全性

下部高速数字接口及测试方法

第9章PCIE简介及信号和协议测试方法

9.1PCIE总线简介

9.2PCIE 协会简介

9.3PCIE信号质量测试

9.4PCIE协议调试和测试

9.5PCIE测试总结和常见问题

第10章PCIE 3.0简介及信号和协议测试方法

第11章SATA简介及信号和协议测试方法

第12章Ethernet简介及信号测试方法

第13章MIPI DPHY简介及信号和协议测试方法

第14章MIPI MPHY简介及信号和协议测试方法

第15章存储器简介及信号和协议测试

第16章USB 2.0简介及信号和协议测试

第17章USB 3.0简介及信号和协议测试

第18章HDMI 简介及信号和协议测试

第19章MHL简介及信号和协议测试

第20章DisplayPort简介及信号测试

第21章LVDS传输系统简介及测试

第22章MILSTD1553B简介及测试