• 微电子技术的可靠性:互连、器件及系统
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微电子技术的可靠性:互连、器件及系统

85品相,有笔记勾画、不影响阅读使用,有黄斑、部分破损实物拍照,品相如图

10 1.7折 58 八五品

仅1件

四川成都
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作者Johan Liu 著;郭福、马立民 译

出版社科学出版社

ISBN9787030376060

出版时间2013-06

版次1

装帧其他

开本16开

纸张胶版纸

页数196页

定价58元

货号R1-1

上书时间2024-09-12

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   商品详情   

品相描述:八五品
有笔记勾画、不影响阅读使用,有黄斑、部分破损实物拍照,品相如图

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有笔记勾画、不影响阅读使用,有黄斑、部分破损实物拍照,品相如图
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