纳米器件空间辐射效应

图书标准信息

• 作者 陈伟
• 出版社 科学出版社
• 出版时间 2024-06
• ISBN 9787030786104
• 定价 198.00元
• 装帧 平装
• 开本 16开

【内容简介】

航天器运行所处的宇宙空间环境中存在大量射线粒子，这些粒子会在航天器电子器件中产生空间辐射效应，导致电子系统性能下降、状态改变，甚至功能失效，影响航天器使用寿命及在轨可靠运行。航天器功能和性能要求越来越高，高可靠性、高集成度、高性能、低功耗纳米电子器件的空间应用前景广阔。纳米器件趋于物理极限的材料、工艺和结构特点对空间辐射效应产生显著影响。本书主要介绍纳米器件空间辐射效应基本概念和研究现状、纳米器件所用材料的辐射损伤微观表征、纳米器件空间辐射效应新机理及可靠性、辐射损伤在纳米电路中的传播机制和加固方法、空间辐射效应重离子模拟试验技术等内容。 本书可为从事电子器件和系统抗辐射加固设计的技术人员，以及抗辐射电子学和辐射物理研究领域相关人员提供参考。

【目录】

丛书序
前言
第1章 绪论
1.1 引言
1.2 空间辐射环境与效应
1.2.1 空间辐射环境
1.2.2 空间辐射效应
1.3 纳米器件与工艺
1.3.1 新材料
1.3.2 新结构
1.3.3 新工艺
1.4 纳米工艺材料、器件和电路空间辐射效应研究现状
1.4.1 纳米工艺材料空间辐射效应
1.4.2 纳米器件空间辐射效应
1.4.3 纳米电路空间辐射效应
1.5 本章小结
参考文献
第2章 先进半导体材料的辐射效应
2.1 引言
2.2 荷能离子在固体中主要的能量损失方式
2.3 材料辐射损伤类型、形成机理及实验表征方法
2.3.1 材料辐射损伤类型及形成机理
2.3.2 材料微观辐射损伤实验表征方法
2.4 典型器件材料的辐射效应
2.4.1 硅材料辐射效应
2.4.2 宽禁带半导体材料辐射效应
2.4.3 低维材料辐射效应
2.4.4 高K材料辐射效应
2.5 粒子在材料中能量沉积和辐射损伤的计算机模拟方法
2.5.1 粒子在材料中能量沉积的蒙特卡罗模拟方法
2.5.2 粒子在材料中辐射损伤的分子动力学模拟方法
2.6 本章小结
参考文献
第3章 纳米器件总剂量效应与可靠性
3.1 引言
3.2 总剂量效应概述
3.3 纳米MOSFET器件总剂量效应
3.3.1 总剂量效应对纳米MOSFET器件电学参数的影响
3.3.2 纳米MOSFET器件总剂量效应关键影响区域
3.3.3 多变量对纳米MOSFET器件总剂量效应的影响
3.4 纳米MOSFET器件长期可靠性
3.4.1 经时击穿效应
3.4.2 热载流子注入效应
3.4.3 偏置温度不稳定效应
3.4.4 总剂量效应与电应力耦合作用
3.5 本章小结
参考文献
第4章 纳米器件单粒子效应
4.1 引言
4.2 单粒子效应概述
4.2.1 单粒子效应实验技术
4.2.2 单粒子效应仿真技术
4.3 纳米存储器单粒子多位翻转
4.3.1 纳米存储器单粒子多位翻转实验技术
4.3.2 纳米存储器单粒子多位翻转的影响因素
4.4 纳米组合逻辑电路单粒子多瞬态
4.4.1 纳米组合逻辑电路单粒子多瞬态实验技术
4.4.2 纳米组合逻辑电路单粒子多瞬态的影响因素
4.5 本章小结
参考文献
第5章 纳米电路单粒子效应时空特征分析与加固
5.1 引言
5.2 单粒子效应时空特征
5.2.1 单粒子效应时空特征的内涵
5.2.2 单粒子效应时空特征的测量方法
5.3 纳米电路单粒子效应的时间特征
5.3.1 单粒子效应时间特征测试结构与方法
5.3.2 单粒子效应时间特征测试结果及分析
5.4 纳米电路单粒子效应的空间特征
5.4.1 单粒子效应空间特征测试结构与方法
5.4.2 单粒子效应空间特征测试结果
5.4.3 单粒子效应空间特征分析
5.5 考虑单粒子加固的纳米电路多目标优化方法
5.5.1 基于贝叶斯优化的时序电路多目标寻优框架
5.5.2 组合电路多目标优化加固方法
5.6 本章小结
参考文献
第6章 重离子辐照实验技术
6.1 引言
6.2 重离子辐照实验技术概述
6.2.1 聚焦型重离子微束辐照
6.2.2 针孔型重离子微束辐照
6.2.3 重离子宽束辐照
6.3 重离子微束辐照实验的关键技术和实验方法
6.3.1 辐照平台搭建
6.3.2 单粒子瞬态测试技术
6.3.3 单离子辐照实验方法
6.4 重离子辐照实验技术的应用
6.4.1 重离子微束辐照实验技术的应用
6.4.2 重离子宽束辐照实验技术的应用
6.5 新型“微束”——二次粒子敏感区定位
6.5.1 概述
6.5.2 IPEM研究
6.6 本章小结
参考文献

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