化学键的弛豫

图书标准信息

• 作者 孙长庆、黄勇力、王艳 著
• 出版社 高等教育出版社
• 出版时间 2017-08
• 版次 1
• ISBN 9787040477504
• 定价 179.00元
• 装帧 精装
• 开本 16开
• 纸张 胶版纸
• 页数 647页

【内容简介】

　　本书从成键与非键的形成、断裂、弛豫、振动以及相应的电子迁移、极化、局域化、致密化动力学角度出发，旨在揭示固体表面化学吸附、异质界面、拓扑缺陷、低维结构等非常规配位体系的各种物理化学性能的微观起源及其在外场作用下的演化规律。着重介绍了键弛豫理论、电子能量局域钉扎极化理论、局域键平均近似原理和数值算法、计量谱学实验以及定量信息提取技术及其应用。

 

　　本书第一篇专注于化学吸附过程中化学键-能带-势垒的弛豫动力学；第二篇主攻低配位体系的反常力学强度、热稳定性、声子激发、光发射与吸收、电子的钉扎与极化、磁性与介电等物性；第三篇主要阐述原子尺度单键固体力学，包括单原子链、单层原子片、纳米孔洞、异质界面等体系，在受热、受力条件下的弹性与塑性力学行为。

 

　　本书强调原理和概念，力求表述简单。全书自成体系、风格独特，贯穿原创性、深入性、关联性和系统性于始终。可作为材料、物理、化学、力学、表面与界面、纳米科学等相关领域的教学和科研参考。