公差配合与技术测量(第2版)
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全新
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作者薛庆红 许岚 苗盈
出版社高等教育出版社
出版时间2024-01
版次2
装帧平装
货号20-5
上书时间2024-08-09
商品详情
- 品相描述:全新
图书标准信息
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作者
薛庆红 许岚 苗盈
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出版社
高等教育出版社
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出版时间
2024-01
-
版次
2
-
ISBN
9787040612646
-
定价
36.80元
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装帧
平装
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开本
16开
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纸张
胶版纸
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页数
208页
- 【内容简介】
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本书是“十四五”职业教育国家规划教材。
本书的编写遵循职业教育教学规律,吸收近年来职业教育改革的成果,以成果导向为主导思想,理论与实践紧密结合。全书采用最新颁布的国家标准,把传统测量技术与先进测量设备及新技术应用相结合,使教材内容与技术发展紧密结合。
本书共分7章,内容包括:绪论,尺寸的公差、配合与检测,几何公差与检测,表面粗糙度与检测,圆锥和角度尺寸的公差与检测,光滑极限量规设计,常用结合件的公差与检测,并在关键知识点配有数字化资源,以及国家级职业教育专业教学资源库课程“几何精密测量”,供读者在线学习。根据职业教育的目标和要求,全书重点介绍产品几何公差的含义及测量方法,对于几何精度设计没有过多介绍。
本书可作为高等职业院校机械类及近机械类专业教材,也可作为成人教育学院、函授大学、电视大学等相关专业的教材,还可作为从事机械设计与机械制造相关工作的工程技术人员的参考用书。
授课教师如需本书配套的教学课件资源,可发送邮件至邮箱gzjx@pub.hep.cn获取。
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