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半导体器件可靠性与失效分析

60 3.08 九品

仅1件

江苏南京
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作者张安康

出版社江苏科学技术出版社

出版时间1986-09

版次2

印刷时间1986-09

印次4

印数3千册

装帧平装

开本16开

字数424千字

定价3.08元

货号H4

上书时间2024-08-29

理科工程技术专卖店

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   商品详情   

品相描述:九品

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