X射线检测关键技术与应用研究/厦门大学南强丛书
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作者方正编著
出版社厦门大学出版社
ISBN9787561580684
出版时间2021-03
版次1
装帧平装
开本16开
定价68元
货号R_11006818
上书时间2024-08-13
商品详情
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全新正版
- 商品描述
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X射线是一种波长短、能量大的电磁波,它被发现至今已有1余年,与其相关的新理论、新方法层出不穷。X射线现已成为诊断和工业检测常规的手段之一。本书是在作者多年从事该领域研究的基础上编撰而成,分上、下两篇。上篇是X射线影像学,介绍了透射成像和层析成像的基本理论,以及作者在相关应用研究中解决关键问题的创新技术和方法;下篇为X射线光谱学,介绍了目前主流的光谱分析方法,并结合作者近期的研究着重阐述了X射线吸收光谱的理论方法、关键技术和应用实例。
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