X射线检测关键技术与应用研究/厦门大学南强丛书

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北京朝阳

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作者方正编著

出版社厦门大学出版社

ISBN9787561580684

出版时间2021-03

版次1

装帧平装

开本16开

定价68元

货号R_11006818

上书时间2024-08-13

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商品描述: X射线是一种波长短、能量大的电磁波，它被发现至今已有1余年，与其相关的新理论、新方法层出不穷。X射线现已成为诊断和工业检测常规的手段之一。本书是在作者多年从事该领域研究的基础上编撰而成，分上、下两篇。上篇是X射线影像学，介绍了透射成像和层析成像的基本理论，以及作者在相关应用研究中解决关键问题的创新技术和方法；下篇为X射线光谱学，介绍了目前主流的光谱分析方法，并结合作者近期的研究着重阐述了X射线吸收光谱的理论方法、关键技术和应用实例。

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