英文书：Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs[无线电和微波功率FET模型和特性].

图书标准信息

• 作者 Peter Aaen（彼得·安恩）、Jaime A. Plá、John Wood（约翰·伍德） 著
• 出版社 Cambridge University Press
• 出版时间 2007-06
• ISBN 9780521870665
• 定价 2546.60元
• 装帧 精装
• 纸张 胶版纸
• 页数 388页
• 正文语种 英语
• 丛书 The Cambridge RF and Microwave Engineering Series

【内容简介】

This 2007 book is a comprehensive exposition of FET modeling, and is a must-have resource for seasoned professionals and new graduates in the RF and microwave power amplifier design and modeling community. In it, you will find descriptions of characterization and measurement techniques, analysis methods, and the simulator implementation, model verification and validation procedures that are needed to produce a transistor model that can be used with confidence by the circuit designer. Written by semiconductor industry professionals with many years' device modeling experience in LDMOS and III-V technologies, this was the first book to address the modeling requirements specific to high-power RF transistors. A technology-independent approach is described, addressing thermal effects, scaling issues, nonlinear modeling, and in-package matching networks. These are illustrated using the current market-leading high-power RF technology, LDMOS, as well as with III-V power devices.

【作者简介】

Peter H. Aaen is the Modeling Group Manager in the RF Division at Freescale Semiconductor, Inc., Tempe Arizona. 

Jaime A. Pia is the Design Organization Manager in the RF Division at Freescale in the RF Division at Freescale Semiconductor, Inc., Tempe Arizona. 

John Wood is Senior Technical Contributor responsible for RF CAD and Modeling in the RF Division at Freescale Semiconductor, Inc., Tempe, Arizona. He is a Fellow of the IEEE.