芯片封测从入门到精通 电子、电工 江一舟 新华正版
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作者江一舟
出版社北京大学出版社
ISBN9787301349069
出版时间2024-04
版次1
装帧平装
开本16
页数256页
字数336千字
定价69元
货号xhwx_1203233170
上书时间2024-12-17
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商品详情
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主编：
全面：全流程讲解芯片封装测试，重点击破关键工艺流程。
基础：从零开始，读者能轻松掌握要点。
经典：凝聚作者18年芯片一线封装测试工作经验。
实战：书中内容来自于生产实践，与实际工作接轨。
目录：
章 芯片封测概述
1.1芯片封测是什么
1.2芯片封测的流程
第2章 晶圆测试
2.1测试机及基本测试
2.2探针台
2.3探针卡
第3章 晶圆磨划
3.1研磨减薄
3.2晶圆划片
第4章 芯片贴装键合
4.1芯片贴装设备的部件和系统
4.2芯片贴装的工艺和材料
第5章 引线键合
5.1引线键合设备
5.2引线键合方法
5.3引线键合的检测
5.4键合的失效可靠
第6章 塑封
6.1塑封工具及过程
6.2塑封材料及工艺
6.3塑封异常及分析
......
内容简介：
芯片封测是指芯片的封装和测试，当芯片设计和制作完成后，需要进行封装和测试。封装类似于给芯片穿上坚固的护外衣，使其可以在复杂的环境下工作，也可以保护芯片，便于散热。测试即检测芯片的好坏，同时检查相关工艺环节所带来的影响。
本书分为12章，章简要介绍了芯片封测的概念和流程；第2章介绍了晶圆测试，包括检测芯片的功能和晶圆的制造工艺；第3~8章重点介绍了传统芯片封装的工艺流程和；第9~10章主要介绍了封装及载带焊接技术；1章介绍了终测试，检测芯片的终功能及封装环节所带来的影响；2章介绍了芯片封测的相关系统及数据异常分析。
本书涉及传统芯片封装测试的所有流程，叙述通俗易懂，并辅以大量的图示，既可以作为微电子或集成电路专业的参用书，也可以作为封装测试公司新员工的培训用书，还可以作为半导体初学者和爱好者的学用书。
作者简介：
江一舟，上海凯虹科技电子有限公司研发部测试开发工程师，在半导体行业工作10多年，先后从事实验室测试、产品工程、设备应用工程、产品流程管理、测试开发等工作。对芯片封装测试有深入研究和丰富的工作经验。
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