抗辐双极器件加固导论 电子、电工 李兴冀,杨剑群,刘超铭 新华正版
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作者李兴冀,杨剑群,刘超铭
出版社哈尔滨工业大学出版社
ISBN9787560364674
出版时间2019-01
版次1
装帧平装
开本16开
页数362页
字数508千字
定价58元
货号xhwx_1201840740
上书时间2023-12-18
商品详情
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目录:
章半导体物理与器件基础
1.1概述
1.2衡半导体
1.2.1本征半导体
1.2.2非本征半导体
1.3载流子输运现象
1.3.1载流子的漂移运动
1.3.2载流子的扩散运动
1.4非衡载流子
1.4.1载流子的产生和复合
1.4.2过剩载流子的质
1.4.3掺杂及过剩载流子小注入的约束条件
1.4.4准费米能级
1.4.5过剩载流子的寿命
1.5双极晶体管基本
1.5.1概述
1.5.2偏置模式
1.5.3双极晶体管电流
1.5.4电流分量
1.5.5电流增益
1.5.6异质结双极晶体管
1.6双极晶体管类型
1.6.1npn型双极晶体管
1.6.2pnp型双极晶体管
1.6.3改进型双极晶体管
1.7双极晶体管电能及缺陷分析测试方
1.7.1电能参数测试
1.7.2栅扫描分析方
1.7.3亚阈值扫描分析方
1.7.4深能级缺陷分析方
1.7.5辐缺陷退火试验方
本章参文献
第2章空间带电粒子辐环境表征
2.1概述
2.2太阳活动对空间带电粒子环境的影响
2.3地球辐带粒子环境
2.3.1地磁层结构特点
2.3.2地球辐带
2.3.3地球辐带质子模式及其选用
2.3.4地球辐带电子模式及其选用
2.4银河宇宙线粒子环境
2.4.1银河宇宙线一般特点
2.4.2常用的银河宇宙线模式
2.4.3银河宇宙线模式选用
2.5太阳宇宙线粒子环境
2.5.1太阳宇宙线一般特点
2.5.2常用的太阳宇宙线模式
2.5.3太阳宇宙线模式选用
2.6近地轨道带电粒子能谱计算
2.6.1轨道能谱计算相关内容
2.6.2轨道能谱的计算流程
2.6.3典型轨道的辐带粒子能谱
2.7带电粒子辐损伤能力判据
2.7.1带电粒子与物质交互作用基本特点
2.7.2带电粒子辐能量损失计算方
2.7.3带电粒子辐吸收剂量计算方
2.7.4器件单位注量辐吸收剂量计算
2.7.5带电粒子辐损伤能力的判据
本章参文献
第3章双极器件电离辐损伤效应
3.1概述
3.2双极器件电离损伤效应基本特征
3.2.1辐照源选择
3.2.2gummel曲线变化规律
3.2.3电流增益变化规律
3.3双极器件电离损伤缺陷表征
3.3.1电离辐缺陷演化规律
3.3.2电离辐缺陷的dlts谱分析
3.3.3电离辐缺陷的gs和ss测试
3.4双极器件电离损伤影响因素
3.4.1电离辐剂量率因素
3.4.2电离辐粒子因素
3.4.3器件偏置条件因素
3.4.4器件结构因素
3.4.5氢气气氛因素
3.5电离辐缺陷产生过程
3.5.1粒子与靶材料相互作用概述
3.5.2电离辐损伤过程
3.5.3氧化物电荷退火效应表征
3.5.4界面态陷阱特
3.5.5边界陷阱
3.6双极晶体管电离损伤相关问题
3.6.1概述
3.6.2载流子复合
3.6.3过剩基极电流
3.6.4双极晶体管退火效应
3.6.5开关偏置效应
3.6.6双极晶体管电离损伤模型
3.6.7低剂量率辐增强效应
本章参文献
第4章双极器件位移损伤效应
4.1概述
4.2位移辐损伤效应基本特征
4.2.1辐照源选择
4.2.2gummel曲线变化规律
4.2.3电流增益变化规律
4.3双极器件位移缺陷表征及演化
4.3.1深能级瞬态谱分析
4.3.2不同能量重离子辐缺陷演化
4.3.3不同种类重离子辐缺陷演化
4.3.4不同重离子源位移辐效应对比分析
4.4位移损伤影响因素
4.4.1偏置条件
4.4.2器件类型
4.4.3器件结构参数
4.5位移损伤效应机理
4.5.1概述
4.5.2位移能量阈值
4.5.3位移损伤缺陷
4.5.4位移缺陷对半导体电能的影响
4.5.5位移损伤等效关系
本章参文献
第5章双极器件电离/位移协同效应
5.1概述
5.2电离/位移协同效应基本特征
5.2.1辐照源的选择
5.2.2gummel曲线变化规律
5.2.3电流增益变化规律
5.3辐损伤缺陷表征
5.3.1异种粒子协同辐缺陷分析
5.3.2单一种粒子辐缺陷分析
5.4辐损伤机理
5.4.1低能质子和电子综合辐照
5.4.2偏置条件对低能电子/质子综合辐照的影响
5.4.3重离子和电子综合辐照
5.4.4高能质子单独辐照
5.4.5协同效应模拟分析
5.4.6电离/位移协同效应物理模型
本章参文献
第6章双极器件抗辐加固相关问题
6.1引言
6.2双极器件辐损伤敏感部位界定
6.2.1电离辐损伤敏感部位
6.2.2位移辐损伤敏感部位
6.3抗辐双极器件工艺优化
6.3.1氧化物层工艺
6.3.2基区表面浓度控制
6.3.3发极工艺因素
6.3.4基区极
……
6.4抗辐双极器件结构设计准则
6.5双极电路与晶体管损伤的关联
6.6新型抗辐半导体材料应用前景
本章参文献
第7章双极器件辐损伤效应评价方
7.1引言
7.2双极器件辐损伤模拟实验方
7.3低剂量率增强效应地面加速试验方
7.4器件在轨吸收剂量计算方
7.5器件在轨能退化预测方
本章参文献
内容简介:
本书从我国宇航用电子兀器件实际需要出发,结作者多年的研究成果,论述了双极工艺器件辐损伤效应的基本特征和微观机制,提出了双极工艺器件抗辐加固与技术研究的基本思路,涉及半导体物理与器件基础、空间带电粒子辐环境表征、双极器件电离辐损伤效应、双极器件位移损伤效应、双极器件宒离位移协同效应、双极器件抗辐加固相关问题及双极器件辐损伤效应评价方等内容。
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