材料分析测试方法有水印。

图书标准信息

• 作者 黄新民、解挺 编
• 出版社 国防工业出版社
• 出版时间 2006-01
• 版次 1
• ISBN 9787118042771
• 定价 26.00元
• 装帧 平装
• 开本 16开
• 纸张 胶版纸
• 页数 238页
• 丛书 普通高等教育“十一五”国家级规划教材

【内容简介】

《材料分析测试方法》主要介绍材料的X射线衍射分析、透射电子显微分析、扫描电子显微镜分析和电子探针微区分析，同时简要介绍了光谱分析、扫描探针显微镜和X射线光电子能谱。

【目录】

第一章X射线的物理学基础
1.1　X射线的性质
1.2　X射线的产生
1.3　X射线谱
1.4　X射线与物质的相互作用
1.5　X射线的衰减规律
1.6　吸收限的应用
本章小结
思考题与习题
第二章X射线衍射原理
2.1　倒易点阵
2.2　X射线衍射方向
2.3　X射线衍射强度
本章小结
思考题与习题
第三章多晶体X射线衍射分析方法
3.1　徳拜照相法
3.2　X射线衍射仪法
本章小结
思考题与习题
第四章X射线衍射方法的应用
4.1　点阵常数的精确测定
4.2　X射线物相分析
4.3　宏观应力测定
本章小结
思考题与习题
第五章透射电子显微镜结构
5.1　光学显微镜的分辨率
5.2　电子波波长
5.3　电磁透镜
5.4　电磁透镜的像差及其对分辨率的影响
5.5　电磁透镜的景深与焦长
5.6　透射电子显微镜的结构
5.7　透射电镜的主要部件
5.8　透射电镜的功能及发展
本章小结
思考题与习题
第六章电子衍射
6.1　电子衍射原理
6.2　单晶电子衍射花样的标定
6.3　多晶电子衍射图的标定
6.4　复杂电子衍射花样
本章小结
思考题与习题
第七章电子显微图象
第八章扫描电子显微镜与电子探针显微分析
第九章光谱分析简介
第十章其他显微分析方法简介
附录
参考文献