机载典型电子元器件热带海洋环境腐蚀行为与机理研究
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作者郁大照；王希彬；王琳
出版社北京航空航天大学出版社
ISBN9787512439962
出版时间2023-11
版次1
装帧其他
开本16开
页数137页
定价59元
货号505
上书时间2024-11-18
商品详情
- 品相描述：全新
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