数字集成电路测试——理论、方法与实践

图书标准信息

• 作者 李华伟、郑武东、温晓青、赖李洋、叶靖、李晓维
• 出版社 清华大学出版社
• 出版时间 2024-06
• 版次 1
• ISBN 9787302662037
• 定价 79.00元
• 装帧 平装
• 开本 16开
• 页数 272页
• 字数 393千字

【内容简介】

本书全面介绍数字集成电路测试的基础理论、方法与eda实践。章为数字集成电路测试技术导论，第2～9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和oc测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术，0章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术，1章对数字电路测试的技术趋势进行展望。
针对每一种数字集成电路测试技术，本书一方面用示例讲述其技术，另一方面用电子设计自动化(eda)的商业工具对具体实例演示技术应用过程（eda工具应用脚本及其说明可在配套资源中下载），并在每章后附有题。通过本书，读者一方面可以学到基本的测试理论和相关技术；另一方面，还可以对当今芯片设计流程和eda工具链中测试技术的运用和实践有所了解。
本书适合作为高等院校集成电路、计算机科学与技术、电子科学与技术等相关专业高年级本科生、教材，也可供集成电路设计与测试行业的开发人员、广大科技工作者和研究人员参。

【目录】

章数字集成电路测试技术导论

1.1集成电路芯片开发过程中的测试问题

1.1.1超大规模集成电路芯片的开发过程

1.1.2设计验证

1.1.3芯片测试

1.2测试技术基础

1.2.1故障模型

1.2.2测试生成简介

1.2.3可测试设计简介

1.3测试技术与eda

1.4本章小结

1.5题

参文献

第2章故障模拟

2.1简介

2.1.1逻辑模拟在测试中的作用

2.1.2故障模拟在测试中的作用

2.2模拟的基本概念

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