X射线荧光分析系统技术原理和应用

图书标准信息

• 作者 庹先国 著
• 出版社 中国原子能出版社
• 出版时间 2017-07
• 版次 1
• ISBN 9787502282349
• 定价 56.00元
• 装帧 平装
• 开本 16开
• 纸张 胶版纸
• 正文语种 简体中文

【目录】

第1章 X射线基本知识
1．1 原子结构
1．1．1 原子结构模型
1．1．2 原子核的组成
1．1．3 核外电子排布
1．2 X射线及其特点
1．2 1 X射线的发现
1．2．2 X射线的性质
1．2．3 X射线的特点
1．3 X射线的激发
参考文献

第2章 X射线荧光分析原理
2．1 莫塞莱定律
2．2 X射线在物质中的物理作用
2．2．1 简介
2．2．2 X射线与物质相互作用原理
2．3 特征X射线能谱
2．3．1 全能峰分布
2．3．2 散射谱线与谱线拖尾
2．4．X射线荧光计数率计算
参考文献

第3章 X射线能谱分析方法
3．1 能量刻度
3．2 剥谱法
3．3 逆矩阵法
3．4 加权*小二乘法
3．5 探测器响应函数拟合法
3．5．1 SDD和Si-PIN探测器响应函数的组成
3．5．2 拟合优度评价因子
参考文献

第4章 能量色散X射线荧光的定量分析
4．1 基体效应
4．1．1 影响基体效应的因素
4．1．2 基体效应的校正方法
4．2 定量计算方法
4．2．1 比值分析方法
4．2．2 工作曲线分析方法
4．2．3 谱库*小二乘法
4．3 神经网络非线性预测
4．3．1 自组织特征映射网络
4．3．2 径向基函数网络
4．3．3 神经网络校正技术的应用
4．4 X射线荧光分析检出限
4．4．1 X射线荧光分析的检出限
4．4．2 检出限的基本公式推导
4．4．3 改善检出限的方法
参考文献

第5章 X射线初级辐射激发源
5．1 X射线管
5．1．1 X射线管的工作原理