• 集成电路开发与测试(中级)
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集成电路开发与测试(中级)

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作者夏 著;居水荣、杭州朗迅科技有限公司、组 编

出版社高等教育出版社

ISBN9787040553062

出版时间2020-12

版次1

装帧平装

开本16开

页数300页

定价58元

货号xhsj-QS

上书时间2025-01-03

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品相描述:全新

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