国之重器出版工程宇航元器件应用验证系统工程第三卷宇航元器件应用验证工程实践

图书标准信息

• 作者 江理东、孙明 著
• 出版社 哈尔滨工业大学出版社
• 出版时间 2020-06
• 版次 1
• ISBN 9787560389226
• 定价 198.00元
• 装帧 平装
• 开本 16开
• 纸张 胶版纸
• 页数 528页

【内容简介】

《宇航元器件应用验证系统工程》是针对我国宇航元器件应用验证技术和方法的研究成果及工程实践进行系统介绍的著作。著作依据作者多年研究而建立的应用验证技术体系和工程管理方法分为 3 卷，共 13 章。本书为第三卷宇航元器件应用验证工程实践，共 2 章，主要介绍 15 个典型元器件应用验证工程实践案例和航天卫星工程应用验证实践。
本书可供从事宇航元器件研发、质量保证和应用的技术人员和管理工作者参考，也适合作为元器件应用验证培训教材及相关专业学生学习的参考书。

【作者简介】

江理东 男，研究员，航天科技集团有限公司学术技术带头人,享受国务院特殊津贴。中国航天标准化与产品保证研究院副院长，中国航天科技集团有限公司元器件保证研究中心主任，装备发展部军用电子元器件专业组成员，装备发展部军用电子元器件标准化技术工作组副组长，国家宇航级和高可靠电子元器件专家工作组组长，宇航元器件标准体系建设总指挥，全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会副主任委员，哈尔滨工业大学兼职（荣誉）教授等。曾担任中国空间技术研究院可靠性中心主任，宇航元器件应用验证总指挥兼总设计师。长期从事宇航元器件保证工作。先后获得部级科技成果二等奖1次，三等奖2次;国防科学技术奖三等奖1次。获得“中国首次月球探测工程圆满成功有功人员”称号；荣立中国空间技术研究院型号一等功1次，二等功2次。

孙 明 男，研究员，中国空间技术研究院宇航元器件应用验证项目副总指挥、元器件专家组成员，装备发展部空间站工程元器件专家组成员。负责卫星专项国产化元器件应用验证和工程应用工作。从事宇航元器件保证和管理工作。先后获得国防科学技术奖三等奖1次，航天科技集团有限公司科技进步奖三等奖1次。荣立中国空间技术研究院型号三等功1次。

【目录】

第 12 章 典型元器件应用验证工程实践 1

12．1 新型抗辐射 LW 系列低压差线性稳压器应用验证工程实践 2

12．2 抗辐射低噪声高精度运算放大器应用验证工程实践 31

12．3 抗辐射大容量 NORFLASH 存储器应用验证工程实践 60

12．4 抗辐射 RS-422 通信接口电路应用验证工程实践 98

12．5 抗辐射功率 MOSFET 应用验证工程实践 119

12．6 抗辐射加固微处理器应用验证工程实践 152

12．7 抗辐射 PROM 存储器应用验证工程实践 193

12．8 抗辐射 SRAM 型 FPGA 应用验证工程实践 221

12．9 高可靠熔断器应用验证工程实践 258

12．10 宇航用高密度低频矩形电连接器应用验证工程实践 291

12．11 宇航用特种电容器应用验证工程实践 316

12．12 宇航用 AFB 系列高性能射频同轴电缆应用验证工程实践 361

12．13 箭载 SoC 应用验证工程实践 395

12．14 宇航用 SMP 型射频同轴连接器应用验证工程实践 430

12．15 宇航用红外焦平面探测器组件应用验证工程实践 456

第 13 章 航天卫星工程应用验证实践 492

13．1 概述 493

13．2 工作目标和技术路线 494

13．3 项目实施 495

13．4 应用验证实施情况 500

13．5 工作成果和创新性 501

13．6 应用验证关键技术突破 505

参考文献 527