• 基于失效模式的电子元器件质量控制
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基于失效模式的电子元器件质量控制

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北京大兴
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作者李京苑 著

出版社首都经济贸易大学出版社

ISBN9787563829347

出版时间2019-04

版次1

装帧平装

开本16开

纸张胶版纸

页数192页

字数211千字

定价68元

货号4-4.*

上书时间2024-07-07

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