差示扫描量热技术
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作者Joseph D. Menczel, Janusz Grebowicz主编
出版社中国科学技术大学出版社
ISBN9787312064494
出版时间2025-12
版次1
装帧平装
开本26cm
定价240元
货号R_200076451
上书时间2026-08-29
商品详情
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- 商品描述
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本书不仅较为系统地介绍了传统的热流式DS率偿式DSC的原理、仪器、实验、数据分析以及在常见领域中的典型应用，还介绍来受到广泛关注的调制温度DSC(MTDSC)、在芯片量热基础上发展起来的闪速DSC以及与DSC相关的联用分析技术。
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