互换性与技术测量
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作者朱文峰、李晏、马淑梅 编
出版社上海科学技术出版社
ISBN9787547836941
出版时间2017-11
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数248页
字数380千字
定价55元
货号xhsjmn-9787547836941
上书时间2024-12-20
商品详情
- 品相描述：全新
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