最短区间估计与最佳双边检验概论
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北京朝阳
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作者刘瑞香 著
出版社知识产权出版社
ISBN9787513010528
出版时间2014-06
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数102页
字数120千字
定价21元
货号JM
上书时间2024-11-15
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