材料结构分析
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全新
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作者王斌
出版社科学出版社
ISBN9787030578181
出版时间2018-09
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数198页
字数310千字
定价48元
货号SC:9787030578181
上书时间2024-10-31
商品详情
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作者简介:
内容简介:
本书针对金属材料材料分析测试的需要,主要介绍了X射线衍射分析、电子显微分析、热分析的主要原理、方法及其在材料分析中的应用;结合创新培养要求,重点介绍原理、方法、试样制备及测试中的注意事项。内容简洁,问题引入,逐层分析,适于创新性人才培养的短学时、创新引导要求。教材满足金属材料类本科专业的人才培养要求,也可作为研究生及工程技术人员的参考资料。
目录:
章 绪论
1.1 材料结构分析的地位及作用
1.2 材料结构分析的内涵
1.3 材料结构分析的发展
第2章 X射线衍射分析
2.1 X射线的产生及其物理作用
2.1.1 电磁辐射基础
2.1.2 X射线谱
2.1.3 X射线与物质的相互作用
2.1.4 X射线的探测与防护
2.2 X射线衍射原理
2.2.1 晶体学基础
2.2.2 布拉格方程
2.2.3 衍射矢量方程
2.2.4 厄瓦尔德图解
2.2.5 劳埃方程
2.3 X射线衍射强度
2.3.1 一个电子对X射线的衍射
2.3.2 一个原子对X射线的散射
2.3.3 单胞对X射线的散射
2.3.4 小晶体散射与衍射积分强度
2.3.5 多晶体衍射积分强度
2.3.6 衍射强度的修正因子
2.4 X射线衍射方法
2.4.1 照相法
2.4.2 衍射仪法
2.5 X射线衍射分析的应用
2.5.1 物相分析
2.5.2 点阵常数的准确测定
2.5.3 宏观应力测定
2.5.4 X射线衍射分析在其他方面的应用
主要参考文献
第3章 电子显微分析
3.1 电子显微分析的发展
3.1.1 电子显微技术的发展
3.1.2 电子显微镜的发展
3.2 电子光学基础
3.2.1 光学显微镜的分辨率与局限性
3.2.2
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