9787547824955几何量公差配合与技术测量（第二版）
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作者刘让贤 编
出版社上海科学技术出版社
ISBN9787547824955
出版时间2015-01
版次2
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数292页
字数400千字
定价37元
上书时间2024-11-04
商品详情
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