软件缺陷模式与测试
￥ 7.29 1.3折 ￥ 56 九五品
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北京通州
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作者宫云战
出版社科学出版社
ISBN9787030317261
出版时间2011-07
装帧平装
开本16开
定价56元
货号9787030317261
上书时间2024-11-22
商品详情
- 品相描述：九五品
- 商品描述
- 书名：软件缺陷模式与测试，作者：'宫云战'，ISBN：9787030317261，出版社：科学出版社
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