晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
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作者马秀良著
出版社高等教育出版社
ISBN9787040610963
出版时间2024-01
装帧精装
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定价149元
货号4526620
上书时间2024-11-23
商品详情
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目录
本书涵盖作者自20世纪80年代末师从郭可信先生起至近年带领研究团队在有关电子衍射方面所积累的主要实验案例, 主体 (第2-6章) 按晶体的对称性从低到高依次展开, 包括单斜、正交、四方、六方、三方、菱方、立方晶系, 涉及周期性晶体14种布拉维点阵中的13种点阵类别以及部分准晶体, 共40余种物相。
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