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全新
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作者薛理辉编著
出版社武汉理工大学出版社
ISBN9787562969297
出版时间2023-11
装帧其他
开本其他
定价158元
货号4598246
上书时间2024-11-21
商品详情
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目录
本书共六个部分, 第一部分介绍晶体结构基础 (第一章); 第二部分以原子及其内层电子能级结构为基础, 介绍X射线光电子能谱、X射线能谱、波谱、荧光光谱等分析方法 (第二、三章); 第三部分是X射线衍射分析, 其中对消光概念包括点阵消光、空间群消光和结构消光做了全面总结, 重点介绍了Rietveld全谱拟合法的基本原理及实践经验 (第四章); 第四部分是电子显微分析, 包括电子光学基础、成像原理、电子衍射分析、背散射电子衍射原理及分析方法等 (第五、六章); 第五部分介绍热分析, 包括热分析基本原理, 九种热分析仪器及热分析的应用等内容 (第七章)。
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