智能仪器设计基础 王祁　主编

前言 
第1章　绪论 
　1.1　概述 
　　1.1.1　仪器仪表的重要性 
　　1.1.2　从传统仪器到智能仪器 
　1.2　智能仪器的结构和特点 
　　1.2.1　智能仪器的结构 
　　1.2.2　智能仪器的主要特点 
　1.3　智能仪器的发展 
　　1.3.1　智能仪器的发展趋势 
　　1.3.2　促进智能仪器发展的新技术 
　　1.3.3　基于知识的高级智能仪器 
　思考题与习题 
第2章　智能仪器中的微处理器前言 
第1章　绪论 
　1.1　概述 
　　1.1.1　仪器仪表的重要性 
　　1.1.2　从传统仪器到智能仪器 
　1.2　智能仪器的结构和特点 
　　1.2.1　智能仪器的结构 
　　1.2.2　智能仪器的主要特点 
　1.3　智能仪器的发展 
　　1.3.1　智能仪器的发展趋势 
　　1.3.2　促进智能仪器发展的新技术 
　　1.3.3　基于知识的高级智能仪器 
　思考题与习题 
第2章　智能仪器中的微处理器 
　2.1　智能仪器中微处理器的选择 
　2.2　MCS-51系列单片机 
　　2.2.1　基本型单片机 
　　2.2.2　精简型单片机 
　　2.2.3　精简增强型单片机 
　　2.2.4　高档型单片机 
　2.3　PIC系列单片机 
　2.4　68系列单片机 
　2.5　MSP-430系列单片机 
　2.6　ARM单片机 
　　2.6.1　AT91系列ARM单片机 
　　2.6.2　LPC2100/LPC2200系列ARM单片机 
　　2.6.3　EP系列ARM单片机 
　　2.6.4　ARM单片机的选择 
　　2.6.5　ARM单片机的应用 
　2.7　数字信号处理器 
　　2.7.1　DSP的特点 
　　2.7.2　TI公司的TMS320系列DSP 
　　2.7.3　TMS320C2000系列DSP简介 
　　2.7.4　DSP在智能仪器中的应用 
　思考题与习题 
第3章　数据采集技术  
　3.1　概述 
　3.2　测量放大器 
　　3.2.1　基本要求 
　　3.2.2　通用测量放大器 
　　3.2.3　可编程测量放大器 
　　3.2.4　隔离放大器 
　　3.2.5　放大器的设置 
　3.3　模拟多路转换器MUX 
　　3.3.1　模拟多路转换器的功能 
　　3.3.2　模拟多路转换器的配置 
　　3.3.3　常用的半导体多路转换器芯片 
　　3.3.4　多路测量通道的串音问题 
　3.4　采样保持电路 
　　3.4.1　采样保持器设置原则 
　　3.4.2　采样保持器工作原理 
　　3.4.3　常用采样保持器芯片 
　　3.4.4　保持电容器的选择 
　3.5　A/D转换器（ADC）及其接口设计 
　　3.5.1　ADC的主要技术指标 
　　3.5.2　与单片机接口的考虑 
　　3.5.3　ADC的选择 
　　3.5.4　抑制系统误差的方法 
　3.6　逐次逼近型A/D转换器及其接口 
　　3.6.1　逐次逼近型A/D转换器的基本原理 
　　3.6.2　TLC2543介绍及其与微机的接口 
　3.7　双积分A/D转换器及其接口 
　　3.7.1　双积分A/D转换器的原理 
　　3.7.2　ICL7135硬件描述与输出波形 
　　3.7.3　ICL7135与MCS-51单片机I/O直接连接接口 
　3.8　Σ-Δ型A/D转换器及其接口 
　　3.8.1　Σ-Δ型A/D转换器的工作原理 
　　3.8.2　Σ-Δ式AD7703介绍 
　　3.8.3　AD7703与单片机的接口 
　3.9　数据采集系统设计 
　　3.9.1　数据采集系统的特性 
　　3.9.2　数据采集系统误差分析 
　　3.9.3　数据采集系统的误差分配举例 
　思考题与习题 
第4章　模拟量与控制信号输出系统 
第5章　智能仪器外设处理技术 
第6章　智能仪器中的通信接口技术
第7章　智能仪器的自检与抗干扰技术
第8章　数据处理及程序设计
第9章　智能仪器设计及实例
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