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作者董燕
出版社黑龙江大学出版社
ISBN9787568610247
出版时间2024-01
装帧平装
开本16开
定价39.8元
货号29681799
上书时间2024-11-04
本文针对AlInN/GaN HEMT器件性能的热退化问题,提出添加背势垒层和自支撑GaN衬底的解决思路,并通过数值模拟的方法进行了验证优化。另通过模拟和实验研究了AlGaN/GaN和AlInN/GaN HEMT的pH值传感器性能并对感测区尺寸进行了优化,证明GaN基器件具有优异的pH值探测性能。
董燕,黑龙江人,黑龙江大学讲师,主要从事微电子器件相关研究工作,包括器件设计、封装、测试分析等。共发表SCI收录论文10篇,国家发明专利三项,核心期刊5篇。
本文针对AlInN/GaN HEMT器件性能的热退化问题,提出添加背势垒层和自支撑GaN衬底的解决思路,并通过数值模拟的方法进行了验证优化。另通过模拟和实验研究了AlGaN/GaN和AlInN/GaN HEMT的pH值传感器性能并对感测区尺寸进行了优化,证明GaN基器件具有优异的pH值探测性能。
董燕,黑龙江人,黑龙江大学讲师,主要从事微电子器件相关研究工作,包括器件设计、封装、测试分析等。共发表SCI收录论文10篇,国家发明专利三项,核心期刊5篇。
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