表面分析技术
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作者(英)约翰·C·维克曼，(英)伊恩·S·吉尔摩 编；陈建 等 译
出版社中山大学出版社
ISBN9787306066893
出版时间2020-12
装帧平装
开本其他
定价200元
货号29199030
上书时间2024-11-02
商品详情
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前言
导语摘要本书介绍表面分析主要技术，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析，每章结尾处还附有相关的分析练习题供读者训练，判断自己对书中知识内容掌握的程度。
作者简介陈建，中山大学研究员、博士生导师，主要研究领域包括材料的分子光谱和电子能谱分析、纳米材料表面和界面性能研究等。
目录
内容摘要本书介绍表面分析主要技术，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析，每章结尾处还附有相关的分析练习题供读者训练，判断自己对书中知识内容掌握的程度。
主编推荐陈建，中山大学研究员、博士生导师，主要研究领域包括材料的分子光谱和电子能谱分析、纳米材料表面和界面性能研究等。
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