LabVIEW与天线测量技术
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作者马玉丰
出版社西安电子科技大学出版社
ISBN9787560668413
出版时间2023-06
装帧平装
开本16开
定价49元
货号1202988780
上书时间2024-10-01
商品详情
- 品相描述：全新
- 商品描述
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目录
第1章认识LabVIEW
1.1LabVIEW的概念
1.2LabVIEW2018的安装
1.3开启LabVIEW程序之旅
第2章启动界面、前面板与菜单
2.1启动界面
2.2前面板和程序框图
2.3菜单栏与工具栏
2.4选板
2.5程序结构与子VI
2.5.1创建子VI
2.5.2调用子VI
2.6运行与调试程序
第3章数据格式
3.1数值
……
内容摘要
本书介绍了LabVIEW在天线测试领域中的使用经验与相关程序代码，筛选并介绍了一些关键函数的使用方法，从基础到实践对天线测试系统采集与分析软件进行了源码解析，同时介绍了天线测试和天线测试系统集成知识，可帮助读者快速进入天线测试系统集成与软件开发的世界。
本书共15章，分为三篇。第1章至第10章为基础篇，介绍了LabVIEW的基础知识，包括认识LabVIEW，启动界面、前面板与菜单，数据格式，循环与事件结构，文件I/O，画图与显示，MAX与仪器驱动、接口，VI显示设置与美化，程序代码的保护，生成可执行与安装程序。第11章、第12章为提高篇，给出了天线测试系统采集软件与分析软件的源代码详细解析。第13章至第15章为高级篇，介绍了天线测试系统集成相关知识。本书通过对这三篇内容的讲解，可帮助读者了解天线测试参数与天线测试系统的组成、天线测试系统的工作原理、设计天线测试系统的关键知识，这些都是天线测试系统集成与软件工程师的推荐常识。
本书可作为高等学校天线测试、测量等专业的教材，也可作为科研院所天线测试与天线测试系统集成工程师和对天线测试感兴趣的读者的学习参考书。
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