石墨烯材料质量技术基础:计量
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作者中国计量物科学研究院,任玲玲
出版社华东理工大学出版社
ISBN9787562864141
出版时间2021-04
装帧精装
开本16开
定价218元
货号1202349713
上书时间2024-09-04
商品详情
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内容摘要
作者简介目录第1章计量与材料计量1.1计量概述1.2计量与测量1.2.1测量1.2.2计量1.2.3计量特点1.3测量误差与测量不确定度1.3.1测量误差1.3.2测量不确定度1.4标准物质1.5计量的作用1.5.1计量对国民经济的作用1.5.2计量在基础研究中的作用1.6材料计量概述1.6.1材料计量研究内容1.6.2材料计量研究成果及社会服务1.6.3材料计量国内外现状1.7国际计量组织1.7.1国际计量局(BIPM)1.7.2亚太计量规划组织(APMP)1.7.3先进材料与标准凡尔赛合作计划(VAMAS)1.8计量比对1.9总结与展望1.9.1总结1.9.2展望参考文献第2章国家质量基础设施及石墨烯材料计量2.1我国古代质量观———度量衡2.2现代质量观———国家质量基础设施2.3计量在国家质量基础设施中的基础地位2.4纳米技术对计量技术的需求2.5石墨烯材料产业国家质量基础设施技术发展2.6石墨烯材料关键特性参数调研参考文献第3章石墨烯材料拉曼光谱计量技术3.1概述3.2拉曼光谱仪溯源3.2.1拉曼光谱测量原理3.2.2拉曼频移的溯源3.2.3拉曼相对强度的溯源3.3拉曼频移和相对强度标准物质的研制3.3.1拉曼频移标准物质3.3.2拉曼相对强度标准物质3.4基于拉曼频移和相对强度标准物质校准拉曼光谱仪的方法3.4.1基于拉曼频移标准物质校准拉曼光谱仪的方法3.4.2基于拉曼相对强度标准物质校准拉曼光谱仪的方法3.5石墨烯材料拉曼光谱测量标准方法3.5.1测量方法研究3.5.2标准方法建立过程中的国内比对3.6小结参考文献第4章X射线衍射法测量石墨烯材料晶体结构4.1概述4.2设备溯源和校准4.2.1设备溯源4.2.2设备校准4.3测量方法研究4.3.1测量样品准备4.3.2取样原则4.3.3测量条件4.3.4图谱分析及数据处理4.4计量比对4.5标准方法4.6小结参考文献第5章原子力显微镜法测量石墨烯材料厚度5.1概述5.2原子力显微镜技术原理5.3原子力显微镜设备校准与溯源5.4测量方法建立5.4.1AFM扫描模式的选择5.4.2AFM测量用基底的影响5.4.3AFM测量参数的影响5.4.4AFM数据分析处理的方法5.4.5不确定度评定5.5计量比对5.5.1比对样品的选取5.5.2国内比对5.5.3国际比对5.6测量方法标准化5.7小结参考文献第6章石墨烯材料电子显微镜计量技术6.1扫描电镜测量石墨烯材料片层尺寸和覆盖度6.1.1扫描电镜溯源及校准6.1.2石墨烯片层尺寸测量方法6.1.3大范围金属基底上石墨烯薄膜覆盖度的测量方法6.2透射电镜测量石墨烯材料形貌、层数和层间距6.2.1透射电镜校准溯源6.2.2透射电镜放大倍率校准用标准物质6.2.3透射电镜校准方法6.2.4石墨烯形貌、层数和层间距的透射电镜测量方法6.3小结参考文献第7章石墨烯粉体化学成分测量技术7.1概述7.2XPS仪器测量要求7.2.1XPS仪器简介7.2.2XPS仪器检定校准7.2.3XPS仪器检定校准用标准物质7.2.4XPS仪器检测注意事项7.3石墨烯粉体的C/O测量技术研究7.3.1测量样品选取7.3.2石墨烯粉体XPS测量方法开发7.3.3石墨烯粉体C/O测量实例7.4ICPMS仪器测量要求7.5石墨烯粉体中金属杂质测量技术研究7.5.1测量样品处理7.5.2石墨烯粉体的ICPMS测量程序7.5.3石墨烯粉体中金属杂质测量实例7.6标准测量方法开发7.7小结参考文献附录1X射线衍射仪的溯源性研究附录2掠入射X射线反射膜厚测量仪器校准索引
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